技术特点
【技术特点】-- MProbe系列薄膜测厚仪
反射光谱干涉法是一种非接触式、无损的、精确且快速的光学薄膜厚度测量技术。
测量范围: 1 nm - 1 mm
波长范围: 200 nm -8000 nm
光斑尺寸:2mum -3 um
产品特点:
a. zei高的测量精度:0.01nm或0.01%
b. 准确度:1nm或0.2%
c. 稳定性:0.02nm或0.02%
d. 强大的软件材料库,包含500多种材料的光学常数
e. 通过Modbus TCP或OPC协议,与其他设备联用
适用于实时在线测量,多层测量,非均匀涂层, 软件包含大量材料库(超过500材料),新材料可以很容易的添加,支持多重算法:Cauchy, Tauc-Lorentz, Cody-Lorentz, EMA等
【技术特点对用户带来的好处】-- MProbe系列薄膜测厚仪
【典型应用举例】-- MProbe系列薄膜测厚仪
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