Ultim Max SDD硅漂移检测器

Speed - The combination of Extreme electronics with the X4 pulse processor allows Ultim Max to map samples at count rates of 1,500,000 cps and accurately quantify composition at 400,000 cps.

Sensitivity - Size really does matter. Use the large 100 mm2 and 170 mm2 sensor areas of Ultim Max to deliver unparalleled count rate under the most demanding analytical conditions.

参考招标参数

EDS技术参数：

数量：1套

1. EDS技术指标

1.1  ★探测器：分析型SDD硅漂移电制冷探测器，有效面积≥40mm²，高分子超薄窗设计。

1.2  封闭式真空系统，无需借助SEM抽放真空。

1.3  能量分辨率：Mn Ka保证优于127eV（@计数率130,000cps）；

F Ka 保证优于64eV（@计数率130,000cps）；

C Ka 保证优于56eV（@计数率130,000cps）；

保证符合ISO 15632:2012标准。

1.4  元素分析范围：Be4～Cf98。

1.5  ★探测器可软件控制自动伸缩。

1.6  ★具备元素面分布Live实时刷新显示功能：在样品台静止状态、移动及改变放大倍数时，均可实时显示电子图像、不同元素分布以及它们的叠加图。样品停止移动时，自动开启面分布图静态采集模式，得到更高清晰度的面分布图。可利用软件控制样品台移动及改变放大倍数。

1.7  具备零峰修正功能，开机后无需重新修正峰位。

1.8  具有实时谱图比对功能。

1.9  电子图像最高分辨率达8192*8192像素；元素面分布图分辨率最高达4096*4096像素；可在电子图像上叠加元素分布图；可从面分布图上进行点、线谱图重建。

1.10 定性分析：AutoID可自动标识谱峰，可进行谱重构。

★具备KLM全谱线系数据库，配置20kV及5kV高低电压定量数据库，可覆盖不同电压下的定量分析。同时，用户可利用微束分析标样建立相应元素的数据库，进行有标样定量分析。