Zetasizer Pro纳米粒度仪

Zetasizer Pro

充满信心地迈步向前

Zetasizer Pro 是一种强大且多用途的测量系统，适用于测量颗粒和分子大小以及纳米颗粒的电泳迁移率和电动电势。 其大小测量速度比前代型号zei多快三倍，可加大样品处理量，使操作人员和系统有更多时间能够完成其他任务。

它拥有直观的界面，由深度学习支持的数据质量诊断系统可以突出显示问题并提供关于如何克服这些问题的建议，即使是刚入门的用户也能完成zei高品质的测量。

概述：

Zetasizer Pro 采用非侵入背散射 (NIBS®) 技术，可在广泛的浓度范围内对颗粒和分子大小进行精准测量。

该系统还利用 M3-PALS 技术提供出色的电动和电泳迁移率测量。 增加的恒流模式可在高导电性介质中测量电泳迁移率和电动电势，从而减少由于较高离子浓度下的电荷屏蔽而出错的可能性。 

大量可供选择的试管适用于各种测量应用（包括一次性、高性价比折叠毛细管样品池），能在极低样品量的情况下使用我们的zl扩散障碍法进行测量，不会产生直接样品电极接触。 

新软件套件 ZS Xplorer 可简化复杂分析并实现自动化，从而在不具备专业知识的情况下完成充满挑战的测量。 其独特的以样品为中心的工作流程带来极高的可用性和灵活性，这意味着比以往更快速、更轻松地完成从样品输入到结果输出的过程。

工作原理：

Zetasizer Pro 在一种紧凑型装置中包含了三种技术，并且拥有一系列选件及附件，以便优化并简化不同样品类型的测量。

动态光散射法 (DLS)用于测量粒度及分子大小。 DLS 可测量作布郎运动颗粒的扩散情况，并采用斯托克斯-爱因斯坦方程将其转化为颗粒粒度与粒度分布。 使用的非侵入式背散射 (NIBS) 技术可在zei广泛的粒度及浓度范围内实现zei高的灵敏度。

DLS 是一种灵活性极高的颗粒测量方法，具有快速、准确、可重复的特点。 它只需要少量的样品即可完成分析，并且可做到无损。 这种技术不考虑材料因素，因此具有极广泛的适用性。

电泳光散射法 (ELS)用于测量电动电势。 分子和颗粒在施加的电场作用下做电泳运动，其运动速度与电荷直接相关 使用zl型激光相干技术 M3-PALS（相位分析光散射法）检测其速率。 这样即可计算电泳迁移率，并得出样品的电动电势及电动电势分布。 

ELS 的运用一般关系到稳定性和配方应用。 不带净电荷的颗粒或分子可能会粘合在一起，可能会是系统遇到的一种困难（例如可能是附聚物的配方）。 不带净正极或净负极电荷的颗粒或分子将更好地彼此保持距离，从而形成稳定的系统。 包含这些颗粒或分子的配方极易受其电荷态的影响，对 pH 值、添加剂浓度和离子浓度等配方属性的变更可能会影响产品稳定性和储存期。

ZS Xplorer 软件套件
该软件的设计非常简单易用，即使是在复杂方法的快速构建中也同样如此。 关于要测量的样品、其条件以及变量的信息在运行开始时输入，并且 ZS Xplorer 将根据这些信息对用于该样品的方法进行智能优化。 由深度学习支持的数据质量指导系统可提供关于结果的反馈，并针对如何对数据进行必要的改进提出清晰的建议。   

选件
MPT-3 自动滴定仪可帮助研究 pH 值变化的影响。 

一系列一次性及可重复使用的样品池优化不同样品体积和浓度的测量。

特点：

• NIBS 光学器件可用于多用途、高灵敏度的颗粒与分子粒度测量

• 动态光散射法 (DLS) 可以测量从 0.6 nm 到 10 µm 的颗粒和分子粒度

• 具有恒流模式的 M3-PALS 可用于电动电势和电泳迁移率测量

• ZS Xplorer 软件套件可实现简单、灵活的方法设置和数据分析

• 自适应相关可在减少样品制备的情况下更快速地执行更多可重现的粒度测量

• 由深度学习支持的数据质量系统可以评估任何粒度数据质量问题，并针对如何改进结果提供清晰的建议

• 带有荧光滤波片的光学滤波片轮可测量荧光样品，且不会损害整体系统灵敏度。  还包括用于 DDLS 测量偏振滤波片。

Zetasizer Pro 采用非侵入背散射 (NIBS®) 技术，可在广泛的浓度范围内对颗粒和分子大小进行准确测量。

该系统还利用 M3-PALS 技术提供出色的电动和电泳迁移率测量。 增加的恒流模式可在高导电性介质中测量电泳迁移率和电动电势，从而减少由于较高离子浓度下的电荷屏蔽而出错的可能性。 

大量可供选择的试管适用于各种测量应用（包括一次性、高性价比折叠毛细管样品池），能在极低样品量的情况下使用我们的zl扩散障碍法进行测量，不会产生直接样品电极接触。 

新软件套件 ZS Xplorer 可简化复杂分析并实现自动化，从而在不具备专业知识的情况下完成充满挑战的测量。 其独特的以样品为中心的工作流程带来极高的可用性和灵活性，这意味着比以往更快速、更轻松地完成从样品输入到结果输出的过程。

上市时间：2018年6月

马尔文帕纳科Zetasizer Pro/Ultra系统的ZS Xplorer软件，引入了新的样品中心流程概念，使得其方法设计和数据分析对新用户而言更为直接，同时保留了完整的对于光散射法应用的用户体验。新的分析功能首次回应了使用动态光散射法表征微粒和分子过程中存在的尘埃或团聚这一关键问题，通过从结果中滤除这些杂质的曲线来得到一个更真实的样品信息。通过集成的、深度学习的、授权的数据质量指导的支持，为用户测量结果提供即时反馈，以及对于低质量数据的改进提供可操作的建议。 Zetasizer Pro 采用非侵入背散射 (NIBS®) 技术，可在广泛的浓度范围内对颗粒和分子大小进行精准测量。 该系统还利用 M3-PALS 技术提供出色的电动和电泳迁移率测量。 增加的恒流模式可在高导电性介质中测量电泳迁移率和电动电势，从而减少由于较高离子浓度下的电荷屏蔽而出错的可能性。 大量可供选择的试管适用于各种测量应用（包括一次性、高性价比折叠毛细管样品池），能在极低样品量的情况下使用我们的zl扩散障碍法进行测量，不会产生直接样品电极接触。 新软件套件 ZS Xplorer 可简化复杂分析并实现自动化，从而在不具备专业知识的情况下完成充满挑战的测量。 其独特的以样品为中心的工作流程带来极高的可用性和灵活性，这意味着比以往更快速、更轻松地完成从样品输入到结果输出的过程。