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VS1800 纳米尺度3D光学干涉测量系统

tel: 400-6699-117 1000

日立激光共聚焦显微镜, 纳米尺度3D光学干涉测量系统VS1800应用光干涉现象,对微细的表面形貌进行测量,可实现高性能薄膜、半导体、汽车零配件、显示器等行业所要求的高精度测量。而且还能以无损伤方式进行多层膜的层结构以及层内部的异物测量。

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技术指标

机型Type 1Type 2Type 3
Z轴马达驱动标配(Z轴移动范围~10㎜)
PZT驱动新增选配(Z轴移动范围~150 μm)
XY样品台驱动方式手动电动
移动范围± 50 mm± 75 mm
样品台尺寸W205 × D150 mmW225 × D225 mm
测角台驱动方式手动电动
移动范围± 2°± 5°
测量相机标准相机或高像素相机
镜筒× 1或 × 0.5
变焦透镜× 0.7透镜(新增选配)
物镜× 2.5 × 5 × 10 × 20 × 50 × 110
样品高度标准0~50 mm
使用加高配件时50~100 mm0~100 mm
电脑OSWindows 10
减震台(带支架)被动式或主动式

软件一览


标配新增选配
测量软件表面形貌测量大倾斜角测量
分析软件ISO参数(参照ISO25178)
轮廓分析、频带分解
负荷曲线分析、颗粒分析
热欧姆转换、线段分析
界面分析、层面分析
截面面积、线测量


   




Type 1Type 2Type 3

Z轴马达驱动标准搭配(zei大测量Z轴高度~10 mm)
PZT驱动选配(zei大测量Z轴高度~150 μm)
XY样品台驱动方式手动电动
移动范围±50 mm±75 mm
样品台尺寸W205×D150 mmW225×D225 mm
测角台驱动方式手动电动
移动范围±2°±5°
观察相机标准相机或超高像素相机
镜筒×1 或 ×0.5
变焦镜头(×0.7)新增选配
物镜×2.5 ×5 ×10 ×20 ×50 ×110
样品高度标准0~50 mm

使用加高配件时50~100 mm0~100 mm
电脑OSWindows 10
减震台(带支架)被动式或主动式





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