技术特点
【技术特点】-- 低阻抗率计 MCP-T370型
| 选购品 | |
 | ESP探头 MCP-TPO8P《四探针探头》 不均一样品用 Pin间 5mm，Pin尖 Ø 2×4支，压力 240g/支， 尺寸 35W×20L×35Hmm |
 | PSP探头 MCP-TPO6P《四探针探头》 小样品或薄膜用 Pin间 1.5mm，Pin尖 0.26R×4支，压力 70g/支， 尺寸 Ø 10-20× L112mm |
 | QPP探头 MCP-TPQPP《四探针探头》 微小样品用 Pin间 1.5mm，Pin尖 0.26R×4支，压力 70g/支， 尺寸 Ø 10-20× L112mm |
 | NSCP探头 MCP-NSCP《四探针探头, 特殊用探头》 Silicone wafer用 Pin间 1.0mm，Pin尖 0.04R×4支，压力 250g/支 |
 | BSP探头 MCP-TPO5P《四探针探头, 特殊用探头》 大样品用 Pin间 2.2mm，Pin尖 0.37R×4支，压力 210g/支 |
 | TFP探头 MCP-TFP《四探针探头, 特殊用探头》 Silicone wafer或玻璃基板上之薄膜用 Pin间 1.0mm，Pin尖 0.15R×4支，压力 50g/支 |
 | AP探头 MCP-TPAP《二探针探头》 标准样式 Pin间 10mm，Pin尖 Ø 2×2支，压力 240g/支 |
 | BP探头 MCP-TPBP《二探针探头》 大样品用 Pin尖 Ø 2×2支，压力 240g/支 |
 | MCP-TRF1探头检验片 ASP, ESP探头用 (探头检验片于测定前检查之) |
 | MCP-TRPS 探头检验片 PSP探头用 (探头检验片于测定前检查之) |
 | MCP-TRTF 探头检验片 TFP, NSCP探头用 (探头检验片于测定前检查之) |
| 标准配备 | ||
 | ASP探头 MCP-TPO3P《四探针探头》 利用价值广泛标准探头JIS K7194对应， Pin间 5mm，Pin尖 0.37R×4支，压力 210g/支， 尺寸 35W×20L×35Hmm | |
 | MCP-TA06 充电器 | |
【技术特点对用户带来的好处】-- 低阻抗率计 MCP-T370型
【典型应用举例】-- 低阻抗率计 MCP-T370型
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