【技术特点】-- iDus 416背照式深耗尽CCD检测器

Andor 的新 iDus 416 平台拥有非常低的暗噪声和非常高的 QE 的独特组合, 在近红外环境中提供无与伦比的灵敏度。这使得它成为近红外拉曼和光致发光的理想探测器, 大大减少了采集时间, 无需不方便的 LN2 冷却。

低暗电流

峰值量化宽松高达95%

30毫米宽的传感器

TE 冷却至-95°C

15微米像素

独特的 2000 x 256, 15μm 像素阵列允许扩展、宽带和高分辨率的光谱采集, 而条纹抑制技术几乎消除了在较高波长上的光学蚀刻。

凭借其紧凑的外形和 USB 2.0 连接, iDus 416 可以无缝集成到 Shamrock 2.0 光谱仪, 并通过笔记本电脑进行控制。在性能和可靠性方面, Andor 的 Ultravac™技术具有独特的业绩记录, 为研究用户和工业集成商年复一年地保持卓越的性能。

【技术特点对用户带来的好处】-- iDus 416背照式深耗尽CCD检测器

【典型应用举例】-- iDus 416背照式深耗尽CCD检测器