SAXS/WAXS/GISAXS 实验室光束线装置SAXSpoint 2.0

SAXS/WAXS/GISAXS 实验室光束线装置SAXSpoint 2.0

接近于同步加速器水平的纳米结构材料无限制分析

SAXSpoint 2.0 是您在实验室进行 SAXS/WAXS/GISAXS 纳米结构分析的首选。在纳米尺度上，轻松进行材料特性和相互作用的无损研究。SAXSpoint 2.0 适用于分析各向异性材料和几乎任何材料的纳米结构表面，以便确定材料的粒径、粒径分布、颗粒形状、结构变化和动态特性。功能强大的软件包支持自动操作和数据分析。

主要特点：

采用专用点准直系统和 HPC 探测器获得出色的结果

SAXSpoint 2.0 采用高光谱纯度和无散射光束准直的高亮度 X-射线。它配备了强大的标准或 MetalJet 微焦斑 X 射线源以及定制的高精度光学元件，可在几分钟内获得出色的结果。
结合使用最新的混合光子计数 (HPC) 探测器，SAXSpoint 2.0 可确保较短的测量时间和优质 SAXS/WAXS/GISAXS 结果，以实现纳米结构材料的完美分析。使用这款出色的装置，可实现非常高的分辨率，从而能够解析最高达 310 nm 的结构。

简化实验室日常测量：TrueFocus 和 Stagemaster

自动完成日常测量工作，加快测量速度，是 SAXSpoint 2.0 实验室系统的标配性能。利用 TrueFocus 功能，只需按下按钮，即可自动精确调准所有 X-射线组件和样品台。
Stagemaster 可自动识别使用哪个样品台，并对系统进行相应配置，从而与 TrueFocus 一起实现最佳测量结果。利用适用于液体样品（如分散液和生物样品）的 ASX 自动进样器，自动样品进出。ASX 自动进样器可配备最多 192 个样品，并针对敏感型样品提供冷却选件。

同时使用 SAXS 和 WAXS：TrueSWAXS

SAXS 和 WAXS 能够提供完整的散射数据，而不需要重新调准有着TrueSWAXS的SAXSpoint 2.0 系统。在散射角高达 60° 2Ѳ 时，可同时连续获得同一样品的小角和广角数据。
这样就可以一次性获得样品的颗粒结构、颗粒/大分子组装体以及原子水平结构的信息。通过 TrueWAXS，您可以通过同一个样品获得所有这些结构信息。

多功能样品台支持各种应用

只需从各种样品台组合中选择适当的样品台，就可以在各种环境和非环境条件下分析几乎所有种类的纳米结构材料。受益于测量装置独有的灵活性。

• TC 控温样品台：-150 °C 至 600 °C 的控温研究

• 湿度样品台：在定义的相对湿度和温度条件下进行分析

• GISAXS/GIXD 样品台：在真空条件下或者与独特的 GISAXS 加热模块（最高 500 ℃）一起使用研究纳米结构表面和薄膜

• VarioStage：利用温控进样器进行自动研究（多固相/糊状/液体样品或毛细管样品）

• Tensile 样品台：在定义的机械载荷下，分析纳米结构纤维。定制样品台解决方案。 

直接出结果：功能强大的控制和数据分析软件

功能强大的 SAXSdrive™ 和 SAXSanalysis™ 软件解决方案支持自动执行常规程序步骤，如测量设置和调准，以及综合数据分析。设置连续测量，利用自动进样、温度扫描和时间相关研究，并使用定制的模板分析获得的 1D 和 2D 数据集。测定回转半径 (RG)、粒径、Porod 常数、比表面积、Kratky 曲线等参数是 SAXSanalysis™ 的标准功能。对于高级结构解析 (PCG)，如粒径、粒径分布、形状和内部结构，可使用 IFT 和去卷积方法。