基本性能提升
190nm~900nm全谱采用塞曼背景校正技术,可扣除所有背景干扰(包含结构背景)
全时双光束技术,样品信号和参比信号同时检测,可获得稳定基线(±0.0004Abs)
操作简便可靠
“提升的基本性能”和“新增功能”的实现是基于日立原子吸收分光光度计的直流偏振塞曼校正技术。
所有元素都可实现高可靠性的背景校正,用户可完全通过软件实现相应分析。
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经销商
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原子吸收光谱仪(AAS)
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