Agilent 5100 SVDV ICP-OES 的智能光谱组合 (DSC) 技术可在一次读数中获得等离子体的水平和垂直观测结果,减少测量次数和氩气消耗
即插即用型垂直炬管可应对zei具挑战性的样品(从高基质样品到挥发性有机溶剂)。简单的炬管载架机械装置可自动调整炬管位置并连接气体,确保快速启动仪器并获得良好的重现性
VistaChip II 检测器是连续波长范围、零气体消耗的高速 CCD 检测器,可快速预热,具有高通量、高灵敏度和zei宽的动态范围
冷锥接口 (CCI) 通过从轴向光路中去除冷等离子体尾焰来减少自吸收和重组干扰
固态射频系统提供可靠、稳定且无需维护的等离子体,可实现长期的分析稳定性
智能的工业设计可确保即使在zei严苛的环境下,也能通过耐腐蚀材料和内部正压将酸性蒸汽排出,获得可靠性能
世界上zei小的 ICP-OES 系统节省了宝贵的台面空间,并且将电源、气体、冷却、水和通信等全部连接简单地放置在仪器一侧,有利于维修和维护
新一代 ICP Expert 软件具有您熟悉的工作表界面,复杂的算法可提供准确可靠的结果、简单的方法开发和软件程序,包括预设的方法模板,可节省您的时间
5100 系统提供三种灵活的配置:垂直火炬同步双向观测、垂直火炬双向观测和垂直观测
所有的等离子体相关气流由计算机控制,使用高精度质量流量控制器(MFC)
• 等离子体气 8-20 L/min ,以 0.1 L/min 递增, 缺省设置为 12 L/min
• 辅助气 0-2.0 L/min,以0.01 L/min递增, 缺省设置为1.0 L/min
• 雾化气 0-1.5 L/min,以0.01 L/min 递增, 缺省设置为 0.7 L/min
• 补偿气(用于可选附件) 0-2.0 L/min ,以 0.01 L/min 递增(用于光学附件)
• 可选气体(氩气/氧气混合气),用软件作为一定百分比的辅助气加入 (0-2.0 L/min),用于一些有机溶剂的应用
ICP-OES 分析结果的重现性和测定的长期稳定性是评价测试结果的关键参数,而等离子体的稳 定性决定整台 ICP-OES 的稳定性,等离子体的气体流量的控制精度是决定等离子体稳定性的 重要因素。Agilent 将成熟的 ICP-MS 气路控制模块运用到zei新 5100 VDV ICP-OES 上,将影 响等离子体的冷却气、辅助气、雾化气气体全部采用高精度的质量流量计控制,辅助气和雾 化气全部为 0.01L/min 的增量调节,高精度 MFC 控制、计算机软件调节;保证 ICP-OES 在zei 复杂样品下具有zei好的稳定性。
RF 发生器
采用zl设计的 27MHz 的固态变频发生器,免维护,水冷却的RF发生器,
功率输出范围为 700W-1500W,10W 增量,耦合效率>75%,无需二次耦合, 功率输出稳定性优于 0.1%;
专 利的变频设计使得在样品基体改变时,可以快速变频耦合,消除反射功率,保证稳定的功率 输出,以确保样品基体突变时仍然可以维持稳定的等离子体,确保获得准确的结果。
光学系统
垂直双向观测,预光学,可从垂直炬进行轴向和径向的等离子体观测。智能光谱组合 (DSC) 技术可在一次读数中获得等离子体的水平和垂直观测结果,减少测量次数和氩气消耗
5100 系统提供三种灵活的配置:垂直火炬同步双向观测、垂直火炬双向观测和垂直观测
Agilent 5100 提供三种配置,均采用垂直火炬设计:
• 同步垂直双向观测 (SVDV) — zei高速的分析测量,zei低的气体 消耗
• 垂直双向观测 (VDV) — 更高的样品测量通量,更高的分析效率, 并可现场升级为 SVDV zei高配置模式
• 垂直观测 (RV) — 高性能的垂直观测设计,适用于高产率,复杂 基质样品的实验室需求
即插即用型垂直炬管可应对zei具挑战性的样品(从高基质样品到挥发性有机溶剂)。简单的炬管载架机械装置可自动调整炬管位置并连接气体,确保快速启动仪器并获得良好的重现性
采用中阶梯光栅+CaF2棱镜构成二维交叉色散系统,整个光学系统 35℃恒温且无任何可移动部件,zei大程度保证了光学系统的稳定性;
CaF2棱镜zei大长度地降低 了棱镜对紫外区的吸收,保证紫外区具有优异的灵敏度;
无需狭缝的切换或紫外和可见的分开读数,一次读数全部谱线一起给出结果,保证zei大的光通量和zei快的分析速度,是真正的全谱直读型仪器。
Easy access to pre-optics windows for user service ability/maintenance. Computer-optimized echelle optical design uses a single entrance slit and focuses the echelle image onto a single CCD detector. No moving optical parts to ensure lowest detection limits and maximum stability. 400 mm focal length polychromator is thermostatted to 35 ºC for excellent stability. Features a CaF2 prism cross disperser and echelle grating (94.74 lines/mm) creating an echellogram of 70 orders projected onto the CCD detector, which is custom-designed to exactly match the image produced by the echelle optics. Mass flow controlled polychromator purge (argon or nitrogen), with easy access user replaceable filter.
前置光学窗便于用户维护。计算机优化的光栅光学设计,采用单入口狭缝,聚焦中阶梯光栅图像到一个单一的CCD探测器。无运动光学部件,以确保zei低检测限和zei大稳定性。
400毫米焦距恒温35ºC的多色仪,稳定性高。
采用中阶梯光栅(94.74线/毫米)+CaF2棱镜构成二维交叉色散系统,创建70阶分极光栅图,投射到CCD检测器上,并采用定制设计,使其与中阶梯光栅光学产生的图像完全匹配。
质量流量控制下的多色仪吹扫(使用氩气或氮气),方便用户更换滤光片。
CCD检测器
特别定制zl全谱 CCD 检测器——zei快的检测速度、气体零消耗
波长范围:167–785 nm
检测器安装在三阶帕尔帖装置上,可冷却至-40 ºC,降低暗电流和噪声
VistaChip II 检测器是连续波长范围、零气体消耗的高速 CCD 检测器,可快速预热,具有高通量、高灵敏度和zei宽的动态范围
zl设计定制的 Vista Chip II CCD 固态检测器全波段覆盖、智能防溢出设计,具有zei快的 信号处理速度,极宽的动态范围;
整个检测器为充气密封,无需氩气气体吹扫检测器表面, 开机即可点火,快速启动分析工作,提高分析效率,节省氩气消耗;检测器密封,使其损坏 的风险降至zei低。
采用zl的成像匹配技术(I-MAP),使光谱的谱线与像素精确拟合,全波 段覆盖所有分析谱线;
与分段式 CCD 不同,Vista Chip II 每个象素都具有防溢出保护,确保 彻底解决溢出问题;
具有 1MHZ zei快速像素读取速度,同时可对检测器双面读取,zei短 0.8秒内 读取 167~785nm 内所有谱线;
智能化自适应积分,同时以zei佳信噪比获得高强度信号和弱信 号,扩展了仪器的线性范围;
相对于 CID 检测器开机需氩气长时间吹扫,Vista Chip II CCD 固态检测器采用全密封设计,无需气体吹扫,启动速度更快,更加节省氩气。
预热时间:从待机到点火<20分钟
Agilent 5100VDV ICP-OES 在光室恒温情况下,无需检测器吹扫,开机即可点火,点火后 10 分钟 即可进行稳定的测试;开机稳定速度短,节省人力和电能,且节省氩气消耗。
Stray light
Stray light elimination via baffles and optical design to less than 2.0 ppm effective As signal at 188.980 nm from 10 000 ppm Ca.
通过挡板和光学设计消除杂散光, 杂散光:≤2.0mg/L(10000mg/L Ca溶液在As 188.980nm处测定)
信号稳定性:典型<1% RSD/8小时,无需内标或任何形式的漂移校正
典型分辨率
元素 波长 (nm) 分辨率 (pm)
As 188.980 <7
Mo 202.032 <7
Zn 213.857 <7.5
Pb 220.353 <8
Cr 267.716 <9.5
Cu 327.396 <13
Ba 614.172 <34
可选附件:
SVS 2+阀切换系统:在下一个样品进样时同时冲洗样品,减少每次分析的时间,提升2倍以上通量,减少样本引入、稳定的时间,和冲洗的延迟
SPS 3自动进样器:高通量自动进样器,快速的X和Z和theta臂移动,两个标准架zei多3个
多模式样品引入系统(MSIS):同时测量Hydride、和非hydride元素包括:As、Se和Hg至亚ppb水平。
特殊应用的样品引入选项:如水溶液,有机溶剂,高盐/高基质样本,含有HF的样本
尺寸:宽×深×高×重量:800 mm × 740 mm × 940 mm × 106 kg
占地面积:0.59 ㎡;Agilent 5100 VDV ICP-OES 是占地 zei小的 ICP-OES,极大的节省了用户空间;所有的连接和控制均在仪器的前面及侧面进行,仪器 背面无需预留大的维护空间,更进一步节省实验室空间。仪器整体功率:耗电量:2.9KVA,是所 有 ICP-OES 中耗电量zei低的,zei大程度上节省了用户的使用成本。
仪器性能
1、双向观测仪器检出限
传统双向观测炬管水平放置,垂直观测检出限往往较高;Agilent5100 采用炬管垂直设计,不但水平观测具有非常低的检出限,垂直观测同样具有极低的检出限,真正满足双向观测对检 出限的需求。
Agilent VDV ICP-OES 5100 典型元素垂直和水平观测 检出限
单位:µg/L
2、复杂基体中长期稳定性
仪器的长期稳定性是考验仪器性能的十分关键的参数,Agilent 5100 VDV ICP-OES 简单基 体溶液下,8 小时的长期稳定性≤1%;
而在更能体现仪器的强劲性能和优异的长期稳定性 的挑战仪器极限,有别于常规只分析标准溶液的做法,Agilent 5100 VDV ICP-OES 在复杂 样品基体(25%NaCl)下加入常规难以测定的 0.25ppm 的 4 个元素,进行长期稳定性试验, 4 小时 RSD%≤2.4%;是任何 ICP-OES 都无法比拟的。
参考参数:
1 光学系统
1.1整个中阶梯光学系统无任何移动部件,所有光学元件均密封于35℃恒温光室中,保证zei低的检出限和优异的长期稳定性。
1.2中阶梯光栅+CaF2棱镜交叉色散多色器系统,波长连续覆盖167〜770nm
1.3测定方式:紫外和可见区由同一狭缝,同一检测器同时测定,一次分析测定全谱覆盖。
1.4波长校正: 采用氩的发射谱线自动进行周期性的波长校准, 保证分析波长的正确性,没有汞灯或氖灯校准的预热和耗材问题。每半年或需要的场合可采用15种元素标准混合溶液进行波长例行校核。
1.5吹扫型光室:对189nm以下波长测定,可选择氩气或者氮气进行光路吹扫。吹扫流量:标准的光室吹扫气体流量为0.7L/Min,测定短波长谱线时,电脑控制,增加3L/min 的气体流量,所有光室吹扫气体流量均由质量流量计(MFC)控制。
1.6分辨率:光学分辨率≤0.007nm (在As188.980nm 处实际测量半峰宽)。
1.7杂散光:≤2.0mg/L(10000mg/L Ca溶液在As 188.980nm处测定)。
2检测器
2.1采用固态检测器,整个波长范围内所有元素一次测定一次读出。
2.2紫外区平均量子化效率≥75%,检测器表面无任何光转换化学涂膜。
2.3检测器冷却:半导体制冷,-40℃,暗电流和背景噪音低。检测器充氮密封,无需气体吹扫,开机即可点火,提高分析效率,降低气体消耗。
2.4防饱和溢出:针对每一个像素进行防饱和溢出保护,彻底消除谱线饱和溢出问题。
2.5积分方式:智能化积分,同时以zei佳信噪比获得高强度信号和弱信号,使高低含量元素可以同时检测。
2.6固态检测器采用1MHz的数据读取速度,只需0.8秒即可完成检测器上所有像素结果的读取,双面数据输出,zei快的检测器读取速度,节省一半的数据处理时间。
3射频发生系统
自激式27.12MHz或40.68MHz固态发生器,功率范围:700-1500W
4观测方式
4.1垂直火炬双向观测方式
4.2尾焰去除:冷锥接口,高效去除尾焰。检出限较垂直观测提高5-10倍,具有高的分析灵敏度。
4.3观测位置调节:等离子体观测位置由计算机控制,X、Y方向可调。
5样品导入系统
5.1进样系统:标配双通道玻璃旋流雾化室和玻璃同心雾化器,其它多种类型的雾化器和雾化室可选。
5.2炬管:标配一体化炬管,快速插拔式设计,无需气体管路连接和炬管准直定位,便于安装和维护,其它多种类型的炬管可选,同时可配置中心管为陶瓷或者石英的可拆卸式炬管。
5.3气体控制:所有等离子体相关气体均为质量流量计(MFC)控制,软件在线调节:
等离子体气:8〜20L/min,增量0.1L/min;
辅助气:0〜2.0L/min,增量0.01L/min;
雾化气0-1.5L/min,增量0.01L/min;
补偿气(用于可选附件):0〜2.0L/min,增量0.01L/min;
5.4蠕动泵:3通道蠕动泵,转速0-80rpm可调,全计算机控制,具有快泵功能。
6软件性能:
6.1操作软件易学易用,可快速进行方法的开发、顺序的编辑。
6.2 计算机全自动化控制,仪器设置和参数选择可自动完成,包括气体流量、功率、点火、诊断等。具有自动安全连锁系统。
6.3背景校正功能:包含传统的单边、双边离峰法背景校正技术,同时,具备多点自动拟合法背景校正技术。
6.4谱图自动解析功能:快速自动谱线拟合技术,在线校正基体谱线干扰。
6.5多重检量限功能:根据不同的元素含量范围选择不同的谱线,使仪器能够同时测定高低含量的元素,使仪器的动态线性范围得到扩展。
6.6提供多种光谱分析方法:如标准比较法、内标法、干扰元素校正系数法(IEC)、标准加入曲线法等,丰富了用户多种分析研究的手段,重置斜率功能免除了重校标准曲线的烦琐。
6.7数据存取:所有结果、方法和顺序可以在同一工作页面一起保存和读取;谱图、结果和标准曲线同时显示;实时图形显示光谱信号、结果和曲线谱图;快速运行过往数据的编辑。
6.8提供多种报告打印和数据输出格式,远程诊断—Web连接使远端的技术服务部门和应用支持部门能够对仪器实现完全远程控制和维修诊断。
7仪器性能指标:
7.1长期稳定性:8小时,RSD≤1%(不加内标,不采用基线飘移修正);
7.2短期稳定性:RSD≤0.5%;
7.3预热时间:从待机状态到等离子体点燃时间小于20分钟;
8工作条件:
环境温度: 10℃-30 ℃;环境湿度20%-80% (不冷凝);
电源:仪器整体功率2.9kVA, 电源:15amp, 220VAC+/-10% ,50 或60Hz+/-1Hz;
通风系统:zei小流量要求:2.5m3/m
除厂家/中国总经销商外,我们找不到 Agilent 5100 ICP-OES电感耦合等离子体原子发射光谱仪 的一般经销商信息,有可能该产品在中国没有其它经销商。
如果您是,请告诉我们,我们的邮件地址是:sales@antpedia.net 请说明: 1.产品名称 2.公司介绍 3.联系方式 |
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