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仪电物光WKL-702颗粒图像分析仪(进口显微)

tel: 400-6699-117 1000

仪电物光激光粒度仪、纳米粒度仪, 将传统的显微测量方法与现代的图像技术相结合,是一种采用图像法进行颗粒形貌分析和颗粒测量的颗粒分析仪器,由光学显微镜、数字CCD摄像机和颗粒图像处理分析软件组成。

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技术特点

【技术特点】-- 仪电物光WKL-702颗粒图像分析仪(进口显微)

将传统的显微测量方法与现代的图像技术相结合,是一种采用图像法进行颗粒形貌分析和颗粒测量的颗粒分析仪器,由光学显微镜、数字CCD摄像机和颗粒图像处理分析软件组成。该系统通过专用的数字摄像机将图像传输给电脑,通过专用的颗粒图像处理分析软件对图像进行分析处理,具有直观、形像、准确和测量范围宽等特点。

1、图像多种处理方法:影像增强、图像叠加、局部提取、定倍放大、对比度、亮度调节、颗粒定位、自动分割等几十种功能。

2、具有圆度、曲线、周长、面积、直径等几十种几何参数的基本测量。

3、可直接按颗粒粒径的粒径面积、形状等多类参数,以线性或非线性统计方式绘出分布图。



【技术特点对用户带来的好处】-- 仪电物光WKL-702颗粒图像分析仪(进口显微)


【典型应用举例】-- 仪电物光WKL-702颗粒图像分析仪(进口显微)



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