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大尺寸镀层测厚仪M2 BLIZZARD

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布鲁克X射线荧光测厚仪, M2 BLIZZARD是布鲁克公司推出的一款微区X射线荧光光谱仪,依据ASTMB568和DIN/ISO 3497,对材料成分和多层涂层厚度进行无损分析。采用开槽设计,非常适用于扁平形状和尺寸过大的样品,例如大型印刷电路板。该仪器采用全新的、视界的XSpect Pro软件进行控制。

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技术特点

【技术特点】-- 大尺寸镀层测厚仪M2 BLIZZARD

PCB分析的理想解决方案

开槽台式微区XRF光谱仪 M2 BLIZZARD

      M2 BLIZZARD是布鲁克公司推出的一款微区X射线荧光光谱仪,依据ASTMB568和DIN/ISO 3497,对材料成分和多层涂层厚度进行无损分析。采用开槽设计,非常适用于扁平形状和尺寸过大的样品,例如大型印刷电路板。该仪器采用全新的、视界的XSpect Pro软件进行控制。

 

主要特性:

·  开槽构型,带可伸长的“大尺寸”样品台
·  可以调节槽缝间隙(10或20毫米)
·  设有大型、耐用的样品托盘,用于样品定位
·  全新优化XSpect Pro操作软件
·  先进的XData软件用于应用程序,标准样品与数据库管理
·  可自定义设置用户界面和测试结果界面
·  具备波谱自动保存功能,用于测量后结果的再处理以及存档
·  用户设定公差,可以方便地判定“合格/不合格”
·  “峰值查找器”,用于定性分析未知样品
·  软件含有测试报告模板以供客户编辑使用
·  配置工业强度的脚踏开关,用于“开始/停止”测量(可选项)
·  可完全设置SPC软件,配合客户工艺需求(可选项)
·  仪器设计简洁坚固,一条USB电缆与PC连接

 

M2 BLIZZARD行业应用:

·  大型印刷电路板-PCB

·  半导体

·  材料科学



【技术特点对用户带来的好处】-- 大尺寸镀层测厚仪M2 BLIZZARD


【典型应用举例】-- 大尺寸镀层测厚仪M2 BLIZZARD



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