技术参数
高达 100 mm/s 平台移动速度 | 面扫描以“on the fly“ 方式进行,单个像素点停留时间可低至 1 ms |
30mm2 或 60mm2 SDD,≤ 145 eV | M6 JETSTREAM 可配备不同的Bruker XFlash (R) 探测器,所有探测器分辨率均在 Mn Kα ≤145 eV |
测量模式下的倾斜角度可为± 10° | 设备除了支持在水平和垂直方式测试外,设备还可以精细倾斜角度,以适应不同角度样品测试 |
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