M6 JETSTREAM 高分辨率大面积微区XRF成像光谱仪

微区X射线荧光光谱仪（MICRO-XRF）

M6 JETSTREAM

高分辨率大面积微区XRF成像光谱仪

移动式微区XRF元素成像光谱仪

超快元素成像

2 x 60 mm² SDD 面积

双硅漂移探测器，可快速获取样品元素信息

80 x 60 cm² 可扫描面积

单次面扫描最大面积

100-500 μm 可调节光斑大小

五种光斑尺寸可调以便更好的匹配样品

最先进的大面积微区XRF元素成像技术

微区XRF（也称为macroXRF或MA-XRF）分析，已成为表征绘画、地质样品、考古文物和工业成分等对大型样品的重要方法。M6 JETSTREAM 以最高速度和精度进行微区X荧光分析。因为其具有方向可调节以可移动式支架，使得M6 JETSTREAM 可在现场使用，无需将部分无法运输样品送至实验室检测。

• 垂直样品或水平表面的测量

• 单次描面积高达 800 x 600 mm2

• “On the fly“分析，以达到最高的面扫描速度

• 可调节光斑大小以匹配样品尺寸

• XFlash® SDD 技术，具有2 x 60 mm2 的探测器面积

• 可选 AMS 系统， 以对不平整表面聚焦

M6 JETSTREAM 能够帮您获得那哪些信息？

Micro-XRF Study of the Troodontid Dinosaur Jianianhualong Tengi Reveals New Biological and Taphonomical Signals, Jinhua Li et. al, Atomic Spectroscopy 2021 42(1)

• 获取任意平面内元素的空间分布信息
  

• 在一次运行中采集整个大面积区域元素分布信息

• 将高分辨率光学图像与光谱存储在一个“ HyperMap “数据集中

• 从面扫描中结果提取任意形状对象光谱、线扫描和化学相态进行进一步分析

• 使用无标准基本参数 （FP） 方法定量分析光谱数据

• 设备可在现场进行检测，能够有效降低成本节约时间，并且能够避免因物流等因素对贵重文物样品造成损坏

M6 JETSTREAM不可以分析水平放置的样品，还可以分析垂直放置的样品。

主要特点：
1.M6 JETSTREAM不可以分析水平放置的样品，还可以分析垂直放置的样品。
2.在高激发强度以及样品台的快速移动情况下，仍可实现快速检测。
3.M6 JETSTREAM的光斑大小可以在5步之内，根据样品结构及所需空间分辨率调整到相应的尺寸。
4.采用布鲁克先进的XFlash®硅漂移探测器，该探测器具有很高的计数率能力，在很宽的计数率范围内拥有良好的能量分辨率。
5.电路为用户提供X射线辐射风险防范措施。
6.超声波测距措施可以防止仪器与被测样品发生碰撞。
7.由于M6 JETSTREAM的可移动性，不论样品结构如何，它都可以很容易的准确定位。另外，M6 JETSTREAM可以很方便的拆卸成四部分，使其便于携带。

行业应用：

文物分析——能够现场原位分析样品，使用户免去了搬运样品的麻烦，同时避免了在搬运中对文物可能造成的损坏。

地球科学——可分析大钻芯样或者其他矿物样品。

 故障分析——可用于大部件样品的缺陷筛查、不均匀性分析，以及其他感兴趣的问题。

M6 JETSTREAM不可以分析水平放置的样品，还可以分析垂直放置的样品。

主要特点：
1.M6 JETSTREAM不可以分析水平放置的样品，还可以分析垂直放置的样品。
2.在高激发强度以及样品台的快速移动情况下，仍可实现快速检测。
3.M6 JETSTREAM的光斑大小可以在5步之内，根据样品结构及所需空间分辨率调整到相应的尺寸。
4.采用布鲁克先进的XFlash®硅漂移探测器，该探测器具有很高的计数率能力，在很宽的计数率范围内拥有良好的能量分辨率。
5.电路为用户提供X射线辐射风险防范措施。
6.超声波测距措施可以防止仪器与被测样品发生碰撞。
7.由于M6 JETSTREAM的可移动性，不论样品结构如何，它都可以很容易的准确定位。另外，M6 JETSTREAM可以很方便的拆卸成四部分，使其便于携带。

行业应用：

文物分析——能够现场原位分析样品，使用户免去了搬运样品的麻烦，同时避免了在搬运中对文物可能造成的损坏。

地球科学——可分析大钻芯样或者其他矿物样品。

 故障分析——可用于大部件样品的缺陷筛查、不均匀性分析，以及其他感兴趣的问题。