超轻元素微区X射线荧光成像光谱仪 M4 TORNADO PLUS

微区X射线荧光光谱仪（MICRO-XRF）

M4 TORNADO PLUS

可用于超轻元素分析的微区XRF成像光谱仪

面扫描分析元素可低至C

支持He吹扫常压下对含水样品进行轻元素测试

C 最低可检测元素

元素周期表从C开始的全部元件都可以进行检测

>6 mm AMS 聚焦深度

AMS系统能够对不平整样品表面图像进行清晰拍摄

0.5-4.5 mm 可选准直器尺寸

附加光管支持四种不同尺寸准直器更换

革命性的超轻元素微区XRF成像光谱仪

对比以往X射线荧光光谱仪, Bruker最新微区XRF 能够为您更多的展现样品中的元素信息，让您对您的样品了解更多。

M4 TORNADO PLUS 具有超轻元素探测器，是首台能够测量 6 号元素（C）以上任何元素的微区 XRF 成像光谱仪。此外，所有轻元素的检测灵敏度都显著提高。

在该仪器上，Bruker引入了最新zlAMS系统，该系统可有效增强多导毛细管的聚焦深度，从而对不均匀样品进行更为清晰的元素成像。可选的第二个 X 射线源进一步扩展了设备的分析功能，支持从 0.5 mm 到 4.5 mm四个可选光斑尺寸。

更轻，更快，更深。

M4 TORNADO 系列产品样品仓支持He吹扫模式进行测试。这可在保持大气压力的条件下显著提高轻元素的测试性能，可对生物或湿样品中的轻元素进行分析，而无需冻结或干燥样品。

PLUS卓越的分析性能

• 可对固体、颗粒或液体样品进行测试，具有 M4 TORNADO 系列产品所具备的所有测试功能

• 扩展您的 micro-XRF 的元素测试范围，能够从6号元素C开始记录光谱、线扫描和样品元素的面分布信息

• 在 HyperMap 中记录和保存每像素点的光学图像和完整光谱信息

• 通过将聚焦 X 射线光束与两个高通量超轻元素SDD探测器相结合，可有效缩短测量时间

• 使用可调整的基本参数法获得快速定量结果，或使用Bruker的 XMethod 软件进行有标样支持或者完全基于标准参数法的镀层样品厚度分析

• 使用AMS系统采集高聚焦深度的不均匀样品表面元素分布图像 

• 在整个仪器的使用周期内，可通过升级和维护服务包提升使用性能

M4 TORNADOPLUS - 微区X射线荧光成像的新纪元

M4 TORNADO^PLUS是世界上第yi台能够检测出C（6）-Am（95）间全部元素的微区X射线荧光成像光谱仪。

作为微区X射线荧光成像光谱仪M4TORNADO系列的zui新产品，M4 TORNADO^PLUS又增添了独特的功能，例如创新性的孔径管理系统，高通量脉冲处理器以及快速灵活更换的样品台。

更轻、更快、更深

M4 TORNADO^PLUS采用超轻元素窗口的大面积硅漂移探测器（SDD）实现对轻元素碳的检测，超高通量脉冲可以zui大程度提升采样速度，BRUKERzl孔径管理系统（AMS）可以获取超大景深，对表面不平整样品分析具有独特的优势。

超轻元素检测

M4 TORNADO^PLUS是史上第yi台能够检测分析轻质元素碳的微区X射线荧光成像光谱仪，具备两个具有超轻元素窗口的大面积硅漂移探测器和一个特别优化的Rh靶X射线光管。

与普通微区X射线荧光成像光谱仪不同，M4 TORNADO^PLUS在不影响较高能量范围内元素灵敏度的前提下，还可以检测原子数小于11的元素（Z＜11），例如氟（F）、氧（O）、氮（N）和碳（C）。

随着功能性的增强，M4 TORNADO^PLUS应用也正在开发和拓展中，例如地质学、矿物学、生物学、聚合物研究或半导体行业等方向。

应用实例-萤石和方解石的区分

萤石（CaF₂）和方解石（CaCO₃）都是以钙为主要成分的矿物。它们的区别在于分别存在轻质元素氟（F），氧（O），碳（C）；由于普通微区X射线荧光成像光谱仪检测不到Z＜11(Na）的元素，无法区分这两种矿物，所以萤石和方解石的光谱图上都只会显示Ca元素谱线。

利用超轻元素探测器，M4 TORNADO^PLUS可以检测氟（F）、氧(O)和碳(C)，从而可靠地鉴别这两种矿物。

图：鉴别萤石与方解石 

左：方解石（红）和萤石（蓝）的元素分布图；图像尺寸：20×12mm²；扫描分辨率：800×460pixels             

右：萤石（蓝）和方解石（红）的轻质元素光谱图。

应用实例-电路板

由于AMS的场深度极深，如图所示电路板的X射线图像获得更多的细节。此外，由于激发X射线光子的入口和出口角度减小，光束能量依赖性变得不那么明显。

图：具备AMS与不具备AMS的电路板元素分布图

左图: 标准多导毛细管聚焦在电路板上，元件的zui高点失焦，显得模糊。

右图: AMS系统加载下图像显示高景深，所有组件聚焦在更大的景深范围内。