【技术特点】-- 手持式激光诱导击穿光谱 (HH-LIBS)

手持式激光诱导击穿光谱   (HH-LIBS)
手持式LIBS 分析仪，用于Al, Ti, Mg 合金的分类
HH-LIBS技术适用于非常快速地合金级标识（alloy grade ID）和化学成分分析；特别是含Li，Mg，Al或Si的轻元素合金。相比于手持式XRF， EOS分析轻元素的速度是前者的约10倍。
zei多一天的课程就可以轻松掌握，非常容易地节省你的时间和金钱。

速度快是仅仅优势的一方面。EOS将给您准确的、可重复的结果，非常可靠。此外，用户友好的数据传输将方便您轻松地创建自定义报告。

手持式LIBS分析仪优势
HH-LIBS 技术
不受X-ray法规显示
优势测量 Li, Mg, Al, Si
快速识别标号Grade ID 和成分分析
准确Accurate 和可重复性Repeatable
独特灵活的电池设计
1节电池：减轻重量
2 节电池：连续工作12小时
“Hot-swap” 热插拔功能

定标校准:
基于可溯源的标样定标
Al, Ti 和 Mg 合金的准确测量
自动选择定标
测量模式: 含量Assay, 标号Grade ID, 指纹标识Fingerprint ID
容易识别、单独的铝牌号， 如356, 357, 6061, 6063 和 1000

EOS 软件特点:
直观的图标按钮
多级用户登录账号管理和用户识别
板载设备性能检测功能
板载突发模式平均功能 
类型标准化
检测与标号识别基于先进的化学计量学算法
指纹光谱识别模式（Fingerprint spectral ID mode）
丰富的标号库：
Bruker EOS包含丰富的标号库（400+标号定义），涵盖各种国际标准。用户可选用的标号库: UNS, DIN 以及其它。 Bruker的Toolbox软件，允许用户： 
修改已有合金标号定义
添加新的合金标号
上传、下载以及在设备之间共用标号库
使用方便：
EOS 是一款拥有 实验室级别硬件的手持式HH-LIBS 分析仪。但是，用户友好的界面设计令操作和结果展示更加直观明了。数据管理和传输非常容易使用。Data management and transfer are very easy  to use.
直观的用户界面—只需点选和测量 （ point and shoot）
只需很少的操作训练
各种场合下的样品识别
报告生产工具 
轻–仅2.4kg，包括电池

EOS 硬件特点:
空气流光学保护技术Air-Flow Optics ShieldTM:
HH-LIBS 技术, 与其它光学技术一样，为了获得更准确的分析结果，需要让设备前端尽量靠近被测样品表面，它们之间的距离越短越好。激光烧蚀阶段产生的粉尘就成为内部光学器 件受污染的一个重要来源。随着时间的增加，粉尘在光学器件表面逐渐累积，逐步减弱通过的光。如果没有及时清理，将会导致精准度下降的问题。Bruker的 EOS具有独一无二的空气流光学保护技术 “Air-Flow Optics Shield” ，可以在光学器件表面形成一个持续的空气保护层，有效阻止粉尘堆积，从而让EOS保持非常理想的工作状态。
光栅扫描  :
由于激光光斑非常小，这样所获得数据就仅限于非常微小的区域。EOS的光栅扫描技术可以让激光束扫描样品上较大的区域。这样就可以给出更具代表性样品检测结果。
多探测器（多光谱）设计  :
Bruker 多探测器的设计使得EOS覆盖扩展波长范围从170纳米到720纳米，并保持优异的分辨率，尤其对复杂金属基体，如钛。广泛的波长范围允许检测的元素，如 Li，Be，Si等，这是一个单一的光谱仪系统无法覆盖的。此外，广泛的波长范围也让EOS可以利用替代测量波长，避免频谱重叠从而达到更好的精度。
环境条件  :
EOS可以在几乎所有环境中现场操作，包括垃圾场这样的潮湿、多尘的环境。
独特的激光技术 :
布 鲁克的HH-LIBS分析仪，EOS，使用专有的1064 nm激光低背景激光烧蚀原子发射光谱。传统的LIBS系统利用高能量，低重复频率的激光来生成等离子体的设计。这样的设计会导致一个高背景的“噪音”，特 别是在频谱的较低端部。布鲁克的1064 nm激光产生强的原子发射信号而不产生高背景辐射，因而不需要复杂的选通系统。利用这一设计，布鲁克的EOS可以很容易地在几秒内分析zei具挑战性的元素， 如Si、Mg＜0.1%浓度。

手持式LIBS分析仪应用包含：
金属分类和估值
Fingerprint ID指纹识别
材料确认鉴定和标识 (PMI)
轻元素测量
Li, Be, Mg, Al, Si

【技术特点对用户带来的好处】-- 手持式激光诱导击穿光谱 (HH-LIBS)

【典型应用举例】-- 手持式激光诱导击穿光谱 (HH-LIBS)