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Map薄膜厚度测绘仪

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semiconsoft在线测厚仪, Map薄膜厚度测绘仪用于测量厚度分布,评价薄膜厚度的均一性,可与所有MProble系列的薄膜测厚仪联用。

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技术特点

【技术特点】-- Map薄膜厚度测绘仪

Map薄膜厚度测绘仪用于测量厚度分布,评价薄膜厚度的均一性,可与所有MProble系列的薄膜测厚仪联用。

大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。比如:氧化物,氮化物,光刻胶,高分子聚合物,半导体(硅,单晶硅,多晶硅),半导体化合物(AlGaAs, InGaAs,CdTe, CIGS),硬涂层(碳化硅,类金刚石炭),聚合物涂层(聚对二甲苯,聚甲基丙烯酸甲酯,聚酰胺)

Map薄膜厚度测绘仪用于测量厚度分布,评价薄膜厚度的均一性,可与所有MProble系列的薄膜测厚仪联用。

厚度测绘台包含:

1. XY电动载物台,行程:150mm/200mm/300mm

2. 19英寸铝制底座

3. 探头适配器

4. 载物台控制器

5. 厚度拼图软件



【技术特点对用户带来的好处】-- Map薄膜厚度测绘仪


【典型应用举例】-- Map薄膜厚度测绘仪



厂家资料

地址:83 Pine Hill Rd. Southborough, MA 01772, USA

电话:400-6699-117 转 1000

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