技术指标
元 素 | As、Se、Pb、Bi、Sb、Te、Sn | Hg、Cd | Zn | Ge | Au | 精密度RSD |
检出限D.L(µg/L) | <0.01 | <0.001 | <1.0 | <0.05 | <3.0 | <0.7% |
线性范围:大于三个数量级 测试时间:小于45秒
采用两通道合并技术提高了原子荧光信号强度,进一步改善了仪器的检出限。
对于超痕量分析有明显改善,从而提高了检出限。
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原子荧光光谱仪
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