理学ZSXPrimusⅡ上照射式X射线荧光光谱仪

PrimusII是理学公司zei新奉献的上照射式X射线荧光光谱仪,因采用了新型分光晶体，使轻元素分析(如C，B)灵敏度大幅度提高。超轻元素对应X射线光管，大功率4千瓦，薄窗，适合轻元素分析。

48样品台，节省空间。1次滤波片，可去掉来自光管的特征谱线，减低背景。双真空，双泵设计，节省抽真空时间。防粉尘附件，可防止粉末掉入真空泵。微区分析可达500。适合少量样品分析。

软件在原有的SQX软件基础上进一步完善,采用对话方式，进行EZ扫描。应用模板，可将各种测试条件，以及前处理顺序设置其中。FP无标样分析，是理学公司多年来总结出的一套很好的分析方法，不设定测试成分也能准确分析。流程条，按顺序显示测试处理内容。

标准样品。操作手册全中文提供。方便中国用户。

维修保养：PAS自动调整，芯线自动清洗。给用户带来方便。

主要特点：

1. 轻元素(B,C)灵敏度大幅度提高—配备新型分光晶体RX-25,RX-61,RX-75

2. 高灵敏度分析重金属—采用新型光学系统

3. 高灵敏度微区分析—Mapping位置分辨率100µm

4. 进一步完善的软件—新的SQX软件

5. 仪器设计充分考虑周边环境—节能、节省空间

ZSX Primus IIZSX Primus II 

采用上照射设计，再不用担心污染光路，清理麻烦和增加清理时间等问题。 集合所有ZSX系列的优点：双真空系统，自动真空控制，mapping/微区分析，超轻元素超强灵敏度和自动芯线清洗等。 ZSX PrimusII可灵活分析复杂样品。30μm超薄窗光管，保证轻元素分析灵敏度。zei先进的mapping包可以检测同质性和夹杂物。ZSX Primus II完全具备迎接21世纪实验室挑战      

Features分析范围： 

Be - U 较小的占地面积 微区分析 上照设计 30 μm超薄窗Mapping: 元素分布 He 密封:样品室一直在真空环境中      

硬件：

对应超轻元素的X射线光管

采用4kW、30µm薄窗X射线光管，可高灵敏度测试超轻元素。

采用新型光学系统

采用新型分光晶体，与第二代仪器分光晶体相比，大幅度提高了灵敏度。

48样品交换器

实现平台式共享化，zei多可放置48个样品。

多样品交换器实现了省空间。

1次X射线滤光片

除去X射线光管的特征X射线光谱，

在减低背景干扰方面发挥威力。

双泵、双真空系统

采用双真空系统(样品室/预抽真空室)。

防止粉末样品的细微粉尘混入光学系统的结构设计，样品交换实现更高效率。

粉末附件

电磁阀真空密封、防止细微粉尘进入真空泵内。

定点分析

100um的Mapping分辨率。可在CCD图像上指定点、区域、线。定点zei小直径500µm。

采用r-θ样品台，避免1次X射线的照射面、以及分光晶体的反射强度的干扰，可得到zei佳灵敏度分析结果。 (无 r-θ 样品台)

节能、节省空间

节能功能

(自动减少X射线光管输出) 减少冷却水量 5L/min(水温30℃以下)

PR气体流量减少(5mL/min)

省空间

采用联体设计，设置面积只占传统仪器70%的空间。

便于维护

PAS脉冲高度自动调整 F-PC芯线自动清洗

软件

新版SQX软件

在RIGAKU独有的基本参数法技术的基础上SQX(Scan Quant X)，追加了新功能。

委托分析EZ扫描

采用对话框形式设定，可进行SQX分析。

定角测试模式

微量元素，采用谱峰和扣背景以一定时间记数方法，使用抑制统计变动的X射线强度，算出分析值。自动设定每个样品变化扣背景的位置。

应用模板

各种测试条件以及样品前处理顺序均设置其中。

散射线FP法

不需设定非测试成分，也可以准确分析。散射线强度计算，可以考虑几何学效果，没有样品量信息也可准确分析。不易加压成形的样品以及油状样品，使用SQX软件，可以简单、准确地进行分析。

流程条

测试、处理流程显示。根据流程条内容，击鼠标键，便可按顺序进行所需的测试、处理。

其它特点的软件功能

SQX分析功能

Mapping数据库

材质辨别

理论重叠校正

自动程序运转

校正投入量计算

应用软件包

应用软件包，设定样品(标准样品、漂移校正样品)

CD-ROM(测试条件、校正常数等)、操作手册全盘提供。