技术特点
【技术特点】-- MVI散射式扫描近场光学显微镜Vista-SNOM
随着近些年对于纳米光子学、表面等离极化激元、二维材料以及范德华异质结构等领域的深入研究,扫描近场光学显微镜 (Scanning Near-field Optical Microscope, SNOM) 已成为研究这些领域的不可或缺的表征手段。虽然扫描近场光学显微镜在散射式模式(s-SNOM)下的空间分辨率有了很大的提升,但是在实际使用上仍然得十分繁杂。在这一背景下,美国Molecular Vista应运而生,推出了全新一代散射式扫描近场光学显微镜Vista-SNOM!
有别于传统的扫描近场光学显微镜,Vista-SNOM基于zl的光诱导力显微镜(Photo-induced Force Microscope, PiFM)技术,通过检测探针与样品之间的偶极交互直接获得样品表面的场强分布,无需远场光学探测器。这不仅杜绝了远场信号的干扰,也无需像SNOM那样配置多个不同波段光学探测器。光诱导力显微镜的检测端可无缝适应紫外~射频,用户仅需考虑如何将激发光激发至样品。
Vista-SNOM在光诱导力显微镜模式下实测的场强结果与模拟结果高度吻合,同时也具备了s-SNOM模式。这使得科研人员可以将PiFM场强结果与s-SNOM场强结果进行对比分析。
【技术特点对用户带来的好处】-- MVI散射式扫描近场光学显微镜Vista-SNOM
【典型应用举例】-- MVI散射式扫描近场光学显微镜Vista-SNOM
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