特点
123 eV FWHM Resolution @ 5.9 keV
高计数率 >1,000,000 CPS
超高峰背比 - 26,000:1
Be window (0.5mil) 或可以配套AMPTEK C2(Si3N4)
T-08 一体化封装
制冷 ΔT> 85K
前置放大器输出成峰时间<60 ns
抗辐射
Si晶体厚度500um
内置多层准直器
70 mm2 准直后有效面积 50 mm2
应用
超快的台式和手持式分析仪
SEM系统中用EDS进行扫描和绘图
在线过程控制及分类设备
OEM定制应用
封装方式:可以适用AMPTEK所有封装产品,完全匹配
XR100FASTSDD with PX5
X-123FASTSDD
OEM Configurations
Vacuum Applications
分辨率:Be(0.5mil) and C windows
请扫描二维码查看详细参数
经销商
除厂家/中国总经销商外,我们找不到 AMPTEK 70mm2 大面积FASTSDD 探测器 的一般经销商信息,有可能该产品在中国没有其它经销商。
如果您是,请告诉我们,我们的邮件地址是:sales@antpedia.net 请说明: 1.产品名称 2.公司介绍 3.联系方式 |
X荧光光谱/XRF(能量色散型X荧光光谱仪)
售后服务
我会维修/培训/做方法
如果您是一名工程师或者专业维修科学 仪器的服务商,都可参与登记,我们的平台 会为您的服务精确的定位并展示。