技术特点
【技术特点】-- Amptek FAST SDD C2 window/快速硅漂移探测器SEM应用
Amptek FAST SDD™ C2 窗口针对SEM应用开发
x - 123 sdd与c2窗口应用SEM EDS
图1，X -123快速SDD™C2窗口光谱仪结合真空装置
Amptek推出全新SDD探测器，针对扫描电镜能谱仪客户应用（EDS SEM）利用全新技术“C”系列X射线窗口(Si3N4)，能够对低能量区域元素快速响应，新Amptek SDD™可以很好的测试元素碳(C)，高效率快速SDD™是EDS光谱仪最理想的方案。
c2窗口传输SEM EDS的应用程序
图2, C2窗口传输效能图
C2 Window Transmission Efficiency 元素C2窗口效能
Transmission | |
|---|---|
| Li | 29% |
| Be | 13% |
| B | 19.7% |
| C | 43.9% |
| N | 59.2% |
| O | 62% |
| F | 69% |
| Ne | 72.9% |
| Na | 75.1% |
| Mg | 77.3% |
| Al | 80.3% |
| Si | 81.8% |
碳谱与C2窗口
图3，在真空环境下使用C2窗口快速SDD™，碳(C)元素光谱图
快sdd 55铁谱
图4，使用快速SDD™ 测试Fe55光谱
c2窗口相比,聚合物windows图4，Amptek低能量C2系列窗口对比 聚合物窗口 效能对比图
【技术特点对用户带来的好处】-- Amptek FAST SDD C2 window/快速硅漂移探测器SEM应用
【典型应用举例】-- Amptek FAST SDD C2 window/快速硅漂移探测器SEM应用
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