AMPTEKX射线/X光硅漂移探测器XR-100SDD

产品参数

常规参数
探头类型	硅漂移探测器(SDD)
探头尺寸	25mm2
硅晶体厚度	500μm
准直器	内置多层准直器(ML)
能量分辨率(@55Fe, 5.9keV峰)	125-140eV FWHM (11.2μs峰化时间)
峰本比(Peak to Background)	20，000:1 (5.9keV,1keV计数比)典型的
铍(Be)窗厚度	0.5mil (12.5μm)
电荷敏感型前置放大器	Amptek定制可复位放大器
增益稳定性（温飘）	<20ppm/ oC (一般情况下)
外壳尺寸	3 x 1.75 x 1.13 inch, 7.6 x 4.4 x 2.9 cm
重量	4.4 ounces (125g)
总功率	<1W
保修期	一年
产品寿命	五到十年，因具体应用而异
环境温度	0~+50oC
仓储和物流要求	长时间仓储：干燥条件下存放十年以上 仓储/物流需求：-20到+50 oC，10%到90%湿度（无冷凝器）
	TUV Certification Certificate #: CU 72072412 02 Tested to: UL 61010-1: 2004 R7 .05 CAN/CSA-C22.2 61010-1: 2004
输出参数
前置放大器电源	电压正负8到9V，电流15mA，噪声峰峰值小于50mV
探头电源	电压-90到-150V，电流25μA； 输入需要非常稳定：<0.1%的波动。
制冷器电源	最大电压3.5V，最大电流350mA，噪声峰峰值小于100mV； 注意：XR-100SDD探测器自身包含温度控制器
输出参数
前置放大器灵敏度	一般为1mV/keV（不同探测器可能略有不同）
前置放大器极性	正脉冲信号输出（最大负载为1k欧姆）
前端放大器反馈	复位
温度显示灵敏度	利用PX5/X-123等直接读取温度（单位：开尔文）
可选配置或配件
X-123SDD	硅漂移探测器（SDD）也有对应的X-123SDD谱仪配置。该集成化配置包含了X射线探头，前置放大器，DP5数字脉冲处理和多道分析模块，以及PC5电源模块。而用户仅需提供+5V的直流输入和到您的电脑的USB/RS232/以太网连接。 包含硅漂移探测器的X-123SDD谱仪产品
真空配件	和所有Amptek真空配件兼容
OEM	和所有Amptek OEM配件兼容

注意事项：
1. 硅漂移探测器需要负高压，而前放输出为正脉冲。
这和标准Si-PIN探测器所要求的正高压，而前方输出为负脉冲正好相反；
2. PX5电源模块可以输出正或负的高压。若您为XR100SDD配套订购了PX5模块，则PX5必须设置为负高压输出。
在使用XR-100CR探测器时，因错误设定PX5为负高压输出导致的探测器损坏不在保修范围之内。
而使用XR-100SDD探测器时，因设定PX5为正高压输出导致的探测器损坏亦不在保修范围之内。