技术特点
【技术特点】-- CIT-3000SM能量色散X荧光光谱仪
技术指标
分析元素:Mg-U,主要是Al、Si、P、S、K、Ca、Ti、V、Fe、Ni、Mn、Pb、Zn、Cu、Sn、Sb、As等
分析范围:1ppm-99.99%
同时分析:20多种元素同时分析
能量范围:1-30keV
测量时间:1-2分钟可以完成全部待测元素的含量分析
探测器的分辨率:150ev
管电压:0-50Kv 管电流: 1~1000 μA
仪器的分析精度:标准偏差≤0.08%
分析误差:优于国家标准要求
辐射剂量:<25μsv/h.
工作环境:温度10~35 ℃ 湿度30~70%RH
電源:AC 220 V±10 %、50/60 Hz
仪器配置
仪器主机一台
控制面板
进口电制冷半导体探测器
X光管(1KV-40KV)
高压电源
计算机一台
激光打印机一台
真空泵一台
压片机一台
制样模具一套
稳压电源一台
测试软件一套
【技术特点对用户带来的好处】-- CIT-3000SM能量色散X荧光光谱仪
【典型应用举例】-- CIT-3000SM能量色散X荧光光谱仪
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X荧光光谱/XRF(能量色散型X荧光光谱仪)
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