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薄膜箔片片材测厚仪

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赛成 CHY-CA01高精度薄膜、片材测厚仪  技术指标

测试范围: 02 mm(常规)06 mm12 mm(可选)

分辨率 0.1 μm

测量速度 10 /min (可调)

测试压力 17.5±1 KPa(薄膜);50±1 KPa(纸张)

接触面积 50 mm2(薄膜);200 mm2(纸张)

注:薄膜、纸张任选一种;非标可定制

进样步距 01000 mm

进样速度 0.199.9 mm/s

AC 220V 50Hz

外形尺寸 461 mm(L)× 334 mm(W)× 357 mm(H)

净重 32 kg



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