X-射线荧光镀层厚度测试仪XDL-B系列
tel: 400-6699-117 转 1000菲希尔X射线荧光测厚仪, FISCHERSCOPE® XDL®-B是一款基于Windows™ 的镀层厚度测量和材料分析的X-射线系统。测量方向从上......
在线客服
产品型号:XDL-B系列
品牌:菲希尔
产品产地:德国
产品类型:进口
原制造商:菲希尔
状态:在售
厂商指导价格: 20~40万元[人民币]
上市时间: 2015-12-08
英文名称:XDL-B series X-ray metal analyzer
优点:FISCHERSCOPE® XDL®-B是一款基于Windows™ 的镀层厚度测量和材料分析的X-射线系统。测量方向从上往下。
参考成交价格: 20~40万元[人民币]
仪器导购
其他推荐
厂家资料
地址:上海市真北路915号22层
电话:400-6699-117 转 1000
经销商
除厂家/中国总经销商外,我们找不到 X-射线荧光镀层厚度测试仪XDL-B系列 的一般经销商信息,有可能该产品在中国没有其它经销商。
如果您是,请告诉我们,我们的邮件地址是:sales@antpedia.net 请说明: 1.产品名称 2.公司介绍 3.联系方式 |
评论
我来点评售后服务
登记我会维修/培训/做方法
如果您是一名工程师或者专业维修科学 仪器的服务商,都可参与登记,我们的平台 会为您的服务精确的定位并展示。
产品调查
查看标准
- CB-13-1990 X 射线荧光测量镀层厚度
- JB/T 12962.3-2016 能量色散X射线荧光光谱仪 第3部分:镀层厚度分析仪
- IS 12860-1989 X射线荧光技术法测定金属镀层厚度
- EJ/T 1100-1999 X射线荧光测井仪
- JB/T 11145-2011 X射线荧光光谱仪
- SJ 20147.1-1992 银和银合金镀覆层厚度测量方法X射线荧光光谱法
- ASTM A754/A754M-08 X射线荧光涂层厚度的标准试验方法
- JB/T 9401-1999 侧窗荧光分析X射线管
- NF A91-116*NF EN ISO 3497:2001 金属镀层.镀层厚度的测定.X射线光谱法
- JJF 1952-2021 X射线荧光测硫仪校准规范