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X-射线荧光镀层厚度测试仪XDL-B系列

tel: 400-6699-117 1000

菲希尔X射线荧光测厚仪, FISCHERSCOPE® XDL®-B是一款基于Windows™ 的镀层厚度测量和材料分析的X-射线系统。测量方向从上......

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技术参数:

1.Fischerscope X-RAY XDL是采用根据技术标准DIN50987,ISO3497和ASTM B568的X-射线荧光测试方法; 

2.原始射线从上至下; 

3.X-射线管高压设定可调节至最佳的应用:50kV,40kV或30kV; 

4.单个0.3mm直径(12 mils)的标准视准器,在附加费用的基础上可选择0.05×0.3 mm(2×12 mil)带槽视准器;或直径0.1mm;或直径0.2mm;或0.4X0.4mm方形。 

5.测量箱外部尺寸:(高×宽×深)650 mm×570 mm×740 mm(26〞×22〞×29〞),重量大约为105kg(120lbs); 

6.带槽箱体的内部尺寸:(高×宽×深)300 mm×460 mm×500 mm(12〞×18〞×20〞)带向上回转箱门; 

7.嵌入式固定的测试件支承板,需要时可移去以适用于大件的超出尺寸的测试工件。 

7.从X-射线头部(X-射线管,成比例的反射接收器及视准器)至测试件平面支承板有三种可选择的固定距离。需要的设定距离(见背面)必须在定货时明确(标准设定:中间位置) 

8.试件查看用彩色摄像机 

9.带有LED状态指示灯的测量开始/结束按钮与测试箱集成在一体 



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地址:上海市真北路915号22层

电话:400-6699-117 转 1000

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