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X-射线荧光镀层厚度测试仪XDLM系列

tel: 400-6699-117 1000

菲希尔X射线荧光测厚仪, FISCHERSCOPE® XDL®-B是一款基于Windows™ 的镀层厚度测量和材料分析的X-射线系统。测量方向从上往下。

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技术参数:

1.Fischerscope X-RAY XDL是采用根据技术标准DIN50987,ISO3497和ASTM B568的X-射线荧光测试方法; 

2.原始射线从上至下; 

3.微聚焦X-射线管高压设定可调节至最佳的应用:50kV,40kV或30kV; 

4.标准视准器组:圆形0.1/0.2/0.3和长方形0.05X0.3mm; 

5.测量箱外部尺寸:(高×宽×深)650 mm×570 mm×740 mm(26〞×22〞×29〞),重量大约为105kg(120lbs); 

6.带槽箱体的内部尺寸:(高×宽×深)300 mm×460 mm×500 mm(12〞×18〞×20〞)带向上回转箱门; 

7.嵌入式固定的测试件支承板,需要时可移去以适用于大件的超出尺寸的测试工件; 

8.电机驱动的144mm(5.7〞)X-射线头部(X-射线管,比例接收器及视准器)的Z轴运行; 

9.试件查看用彩色摄像机 

10.测量开始/结束按钮,X-射线头部上/下按钮及LED状态指示灯与测试箱集成在一体。 

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