技术参数:
1.涂镀层厚度的测量采用X-射线荧光测试方法,符合技术标准DIN50987,ISO3497和ASTM B568;
2.测量箱结构坚固,使用合格的机械和电气部件;
3.测量箱外部尺寸:(高×宽×深)720 mm×660 mm×950 mm,重量大约为90kg;
4.带槽箱体的内部尺寸:(高×宽×深)140mm×560 mm×530 mm,带向上回转箱门;
5.原始射线从上至下;
6.高性能的X-射线管,高压及电流设定可调节至最佳的应用,高压设定:50kV,40kV或30kV;阳极电流:连续可调至0.8mA;
7.最小测量点: 50×100um
8.聚焦范围: 2.5 mm
9.自动的X-射线光束十字星校准。该特性在测量极小工件时非常有用;
10.高能量解像度的半导体接受器带帕耳帖冷却;内部光谱处理的ADC的通道为4096,压缩为1024个输出通道;;
11.快速编程,高精确度,电机带动的XY工作台运行范围:
X=250mm, Y=220mm. ;定位精度0.005mm;
工作台的控制可通过鼠标点选或操作杆
工作台面板可自动移出至工件放置位置;定位容易;
12.电机驱动及高度(Z-轴)Z-轴运行=95mm;
13.高分辨率的彩色摄像头用于测试工件的定位及查看;可选择的双重放大率30-1108倍,带十字星及度量网格以及测试点尺寸指示;
14.测量箱键盘适合于最常用的测量功能和程序选择,操纵杆控制X-Y工作台,钥匙控制X-射线头的缓慢或快速的上下移动,LED状态指示灯。
经销商
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