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瑞柯FT-340系列 四探针方阻仪/ 电阻率测试仪

tel: 400-6699-117 1000

瑞柯四探针测试仪, 本仪器采用四探针双电测量方法,适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。

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技术特点

【技术特点】-- 瑞柯FT-340系列 四探针方阻仪/ 电阻率测试仪

四探针 方阻 电阻率测试仪

双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换,进行两次电测量,对数据进行双电测分析,自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响,它与单电测直线或方形四探针相比,大大提高精确度,特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。


FT-340系列双电测四探针方阻电阻率测试仪

本仪器本仪器采用四探针双电测量方法,适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电阻率单位自动选择,仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制,恒流输出,结构合理、质量轻便,运输安全、使用方便;选配:配备软件可以由电脑操控,并保存和打印数据,自动生成报表;本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示,同时显示液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.

双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换,进行两次电测量,对数据进行双电测分析,自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响,它与单电测直线或方形四探针相比,大大提高精确度,特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。


FT-340系列双电测电四探针方阻电阻率测试仪

FT-340 Series Double electric four-probe resistance ratio tester

一.应用说明Widely used:

覆盖膜;导电高分子膜,高、低温电热膜;隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层,电阻式、电容式触屏薄膜;电极涂料,其他半导体材料、薄膜材料方阻测试

硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻  半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件,导电薄膜(ITO导电膜玻璃等),金属膜,导电漆膜,蒸发铝膜,PCB铜箔膜,EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率  导电性油漆,导电性糊状物,导电性塑料,导电性橡胶,导电性薄膜,金属薄膜, EMI 防护材料,导电性纤维,导电性陶瓷等,提供中文或英文两种语言操作界面选择,

二.描述Description:

采用四探针组合双电测量方法,液晶显示,自动测量,自动量程,自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出;选配:PC软件进行数据管理和处理.

规格型号/ modelFT-341  FT-342   FT-343FT-345  FT-346FT-347

1.方块电阻sheet resistance 10-5~2×105Ω/□10-4~2×105Ω/□10-3~2×105Ω/□10-3~2×104Ω /□10-2~2×105Ω/□10-2~2×104Ω/□

2.电阻率Resistivity 10-6~2×106Ω-cm10-5~2×106Ω-cm10-4~2×106Ω-cm10-4~2×105Ω-cm10-3~2×106Ω-cm10-3~2×106Ω-cm

6.显示读数display屏液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率Large screen LCD: Resistance. resistivity. sheet resistance. temperature. unit conversion.temperature coefficient. current. voltage. probe shape. probe spacing. thickness. conductivity



FT-330系列普通四探针方阻电阻率测试仪

.型号及参数Models and technical parameters

规格型modelFT-331FT-332FT-333FT-334FT-335FT-336

1.方块电阻范围Sheet resistance 10-5~2×105Ω/□10-4~2×105Ω/□10-3~2×105Ω/□10-3~2×104Ω/□10-2~2×105Ω/□10-2~2×104Ω/□

2.电阻率范围Resistivity 10-6~2×106Ω-cm10-5~2×106Ω-cm10-4~2×106Ω-cm10-4~2×105Ω-cm10-3~2×106Ω-cm10-3~2×105Ω-cm

6.显示读数display液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率LCD: resistance. resistivity. sheet resistance. temperature. unit conversion.temperature coefficient. current. voltage. probe shape. probe spacing. thickness. conductivity

7.测试方式test mode普通单电测量general single electrical measurement



温馨提示:半导体材料测量,我们提供四探针法,低阻,高阻,双电组合法,普通单电法,以及高温电阻率测试仪系列,欢迎和我们保持联系---瑞柯仪器


温馨提示:半导体材料的电导性能和均匀性通过四探针法来测试,四探针测试仪根据量程可以划分为,低阻四探针测试仪测到-6次方;高阻四探针测试仪测到7次方至9次方;,双电测四探针测试仪测到-5次方到5次方,单电测四探针测试仪-5次方到5次方,

我们解决半导体材料电性能测量问题,上述都是我们产品,欢迎和我们交流—瑞柯仪器

双电测四探针测试仪



【技术特点对用户带来的好处】-- 瑞柯FT-340系列 四探针方阻仪/ 电阻率测试仪


【典型应用举例】-- 瑞柯FT-340系列 四探针方阻仪/ 电阻率测试仪



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