日立高新 Nanocute/E-SWEEP 扫描探针显微镜

主要特点：

　　Nanocute继承以前被公认的小型高刚度设计理念、再加上稳定性-高精度的追求，将先前的测量系统包括机台及光学部分使用zei新的技术从根本进行了重新设计。其性能在配合同时开发的NanoNavi II - NanoNavi IIs控制系统的情况下发挥的淋漓尽致。还有由于装载新型自感应检测系统，使得从来无法得到的操作简易性得以实现。

　　E-SWEEP型为可控环境型，主要特点是：

　　扫描在封闭的Chamber中进行，可对测量的环境(高真空、高温、低温、液体、电化学等)进行控制。

　　专业级的真空Chamber，所有的部件都是针对高真空和高低温环境所设计;

　　zei高分辨的可控环境SPM，是一款可实现原子级分辨的可控环境SPM;

　　适合各种金属、陶瓷及高分子材料在不同温度下的性能表征，温度范围宽且控制稳;

　　采用性能优异的磁悬浮分子泵，避免了真空系统对测量的影响，即使启动真空系统，设备也能进行高分辨稳定的测量;

　　高真空环境，保护高低温条件下的测量、消除空气对测量的影响、研究物质在高真空环境中的特殊性质;

　　双测温头设计，不仅测量样品台温度，而且能测量样品表面温度，彻底解决温度梯度导致的误差;

　　独特设计的控温台和扫描器，保证各种温度条件下稳定而高分辨的测量;

　　L-trace II为大样品台型，能对6英寸或8英寸的样品直接测量，高度自动化，标配闭环扫描器。