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扫描探针显微镜/压电响应力(PFM)

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NT-MDT扫描探针/原子力显微镜SPM/AFM, 这一成像技术在开发基于铁电畴变等的新型电子设备方面引起了极大的关 注,在对将来电脑存储等领域的诸多应用方面的发展有着巨......

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技术特点
【技术特点】-- 扫描探针显微镜/压电响应力(PFM)

  原子力声学显微镜是基于福朗霍夫非破坏性测量研究所(Saarbrucken,Germany)Walter Arnold教授的工作研制的。Hirsekorn等精辟地描述了常规的AFM与AFAM之间的差别。在常规AFM中,当扫描材料表面时,悬臂(cantilever)振动,样品和仪器顶端产生力。而在AFAM 中,一个声学调制器被放在样品的下面,产生垂直和水平的振动。系统利用悬臂产生的屈曲和扭转,基于样品局部的弹性、粘性和摩擦性质产生图象。这种分析类型叫做接触共振光谱学(contact resonancespectroscopy),并同时产生拓扑结构光谱和AFAM图象。NT-MDT网站上有动画来解释真实的实验以及衍生出来的图象和测量结果。


【技术特点对用户带来的好处】-- 扫描探针显微镜/压电响应力(PFM)


【典型应用举例】-- 扫描探针显微镜/压电响应力(PFM)


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