测量模式: STM/ AFM (接触 + 轻敲+非接触)/ 横向力/ 相位/ 力调制/力谱/粘附力/ 磁力/静电力/ 开尔文/ 扩展电阻/纳米压痕/纳米刻蚀: AFM (电压刻蚀 + 力刻蚀)
扫描方式:样品扫描
测量头部:AFM和SPM(全内置自动切换),可选配液相模式和纳米压痕测量头
zei大样品尺寸:直径20mm,厚度10mm
XY样品定位装置:移动范围5×5um,软件控制电动定位
XY样品定位装置zei小步进:0.3um
扫描范围:100×100×10um(三维全量程闭环控制扫描器),3×3×2um(低电流模式扫描器)
XY方向非线性度:≤0.1%(闭环控制扫描器)
Z方向噪音水平(带宽10~1000Hz时的RMS值):闭环控制扫描器(典型值0.03nm,zei大0.04nm),低电流模式扫描器(0.02nm)
激光光路系统:电动调节,全自动准直
视频显微系统:软件控制电动变焦和连续变倍,软件控制变换视野,分辨率2um
样品温度控制:室温~150℃
除厂家/中国总经销商外,我们找不到 Solver Next全自动扫描探针显微镜 的一般经销商信息,有可能该产品在中国没有其它经销商。
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