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SQM表面质量分析仪SQM-500

tel: 400-6699-117 1000

普尔特半导体专用检测仪器设备, SQM-500W表面质量检测系统用于对样品表面清洁质量进行检测与分析。SQM系列产品的重大突破是首次提供表面清洁度的定量分析。可以对各种表面上的污染进行非接触无损伤的快速准确的测量。结果能够为优化表面清洁工艺提供真实可靠的分析,为产品品质提供有力可信的保证,是公司利润和信誉提供必不可少的保障。

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技术特点

【技术特点】-- SQM表面质量分析仪SQM-500


产品介绍:

SQM-500W表面质量检测系统用于对样品表面清洁质量进行检测与分析。

SQM系列产品的重大突破是首次提供表面清洁度的定量分析。可以对各种表面上的污染进行非接触无损伤的快速准确的测量。结果能够为优化表面清洁工艺提供真实可靠的分析,为产品品质提供有力可信的保证,是公司利润和信誉提供必不可少的保障。

 

产品特点:

■    各种材料表面:硅/蓝宝石/碳化硅/砷化镓/石英/锗/铌酸锂/金属

■    各种污染:有机的和无机的污染物

■    可对清洁度定量分析

■    可对清洁度等级设定

■    对新的清洁工艺进行评估,优化工艺

■    可以检测到难以观测到的薄膜

■    测量薄膜厚度

■    在线和离线可选择

■    样品不需要其他准备动作,可直接检测,方便快捷

■    非接触,无损害

■    精度可达埃米


其他型号

型号

功能简介

SQM200W

单通道系统,检测表面清洁度。自动储存。
系统功能包含上下限设定,模拟信号输出及接受拒绝指示。

SQM300W

SQM200W+有机和无机薄膜厚度,过程控制图表。

SQM400W

(仅针对NASA,对其他所有客户不销售)

多通道系统,检测表面清洁度,有机和无机薄膜厚度。
系统功能包含上下限设定,模拟信号输出及动静指示。 
模块化系统,允许用户定义多通道,5分钟内替换其子装备,可操作性强。

SQM500W

集成扫描,3D彩色图形系统,可检测不可见的污染物,使其直观可见。
包含电动系统和控制X-Y扫描台。是检测和分析表面化学变化的强大工具。

SQM600W

集成扫描,3D彩色图形系统,可检测不可见的污染物,使其直观可见。
包含电动系统和控制旋转扫描台及线性轨道。
是检测和分析表面化学变化的强大工具。





【技术特点对用户带来的好处】-- SQM表面质量分析仪SQM-500


【典型应用举例】-- SQM表面质量分析仪SQM-500



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