EDX200 X荧光光谱仪

　　主要技术指标：

　　能量色散X射线荧光分析法

　　分析元素 Si～U（Cd/Pb/Cr/Hg/Br高精度型）

　　                 Na～U(任选：φ1.2mm/φ0.1mm切换方式型）

　　检出下限 Cd/Pb/Hg/Br/Cr≤5ppm

　　样品形状 460×380mm(高150mm)

　　样品： 粉末 固体 液体

　　靶材Rh X射线管管电压≦50KV 管电流≦1mA X射线照射径1/3/5mm

　　防护＜0.1mR/Hr(辐射低于电脑屏幕）

　　内置高清摄像头

　　定性分析：自动定性（自动去背景/自动剥离重叠峰/自动补偿逃逸峰/自动补偿谱图漂移）

　　软件照射径：1/3/5mm

　　定量分析：基础参数法/标准法/1点校正