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布鲁克XTrace 2 XRF/QUANTAX Micro-XRF高性能微区荧光光谱仪

tel: 400-6699-117 8265

布鲁克X荧光光谱/XRF(能量色散型X荧光光谱仪), XTrace 新型微束斑 X 射线源,使扫描电子显微镜具备Micro-XRF 分析能力。......

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技术规格

参数 细节描述
样品类型 固体,颗粒
激发源 配备毛细导管的高质量X射线光管
激发源参数
靶材 标配Rh靶,可选Mo,W靶
光管参数 50 kV, 600 μA (zei大30 W, depending on X-ray tube)
束斑直径 小于40 μm for Mo K
毛细导管长度 400 mm
初级滤片 3级初级滤片, 标配100 μm Al, 20 μm Ti, 10 μm Ni (可依据客户需求定制其它滤片)
探测器 XFlash 硅漂移探测器*
设备控制 无需其它更多的电脑, 推荐使用QUANTAX EDS所配电脑*
软件 Bruker ESPRIT
设备控制功能 完全控制光管参数及滤片
谱图分析 XRF谱峰鉴别,背景修正,谱峰面积计算,无标样定量分析,XRF 和 EDS 组合定量分析,镀层分析
元素面分布分析 超级面分布HyperMap
结果输出 定量分析结果,统计分析,线扫描,元素面分布
功率 100 - 240 VAC (1P), 50/60 Hz
尺寸 300 mm x 250 mm x 140 mm
重量 11 kg
质量标准及安全防护 ISO 9001:2008, CE certified全面的射线保护系统,辐射 < 1 μSV/h

 


厂家资料

地址:北京市海淀区西小口路66号中关村东升科技园B-6号楼C座一、八层C103 C106 C801

电话:400-6699-117 转 8265

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