技术参数:
目标元素:Pb Hg Cd Cr Br
测量元素范围:F(9)~Fm(100)
元素含量分析范围:1ppm~100%
X-光管:Mo-阳极标准
X-射线电压:50kV,50W
稳定性:室温条件下精确到0.1%
探测器:硅漂移探测器(Super SDD),热电制冷
分辨率:123ev±5ev
滤光片:6款滤光片可选
工作条件:常温常压
电源:115V AC/60Hz,230V AC/50Hz
脉压:多信道分析
尺寸(L×W×H,CM):55×55×32(不含包装),80×80×65(含包装)
重量:50Kg(净重),90Kg(总重)
样品室尺寸:22×22 CM, H=5 CM
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X荧光光谱/XRF(能量色散型X荧光光谱仪)
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