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理学ZSX Primus III+ 上照射式波长色散X射线荧光光谱仪

tel: 400-6699-117 6243

理学X荧光光谱/XRF(波长色散型), 高精度分析、操作界面简洁、自动化程度高......

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技术特点
【技术特点】-- 理学ZSX Primus III+ 上照射式波长色散X射线荧光光谱仪

  理学ZSX Primus III+提供主要和次要原子元素的快速定量测定,从氧(O)到铀(U)的zei低标准的广泛样品类型。

  高度可靠性的上照射式光学系统

  ZSX Primus III+具有场新的上照射式光学配置。用户再也不用担心由于维护样品室导致的路径污染或停止时间。上照射式几何结构消除了清扫的担心并增加了时间。

  高精度样品定位

  高精度样品定位确保了样品表面与X设吸纳管之间的距离恒定。这对例如合金分析等需要高精度的应用非常重要。ZSX Primus III+使用一个独特的光学配置执行高精度分析,用于减少由于例如电熔铢和压片等样品中的非平面表面导致的错误。

  SQX 基本参数软件与EZ扫描软件

  用户使用EZ扫描软件可以在无需任何事先设置即可分析位置样品。这个节省时间的特征仅需点击鼠标和输入样品名称。结合SQX基本参数软件,快速提供zei准确的XRF结果。SQX能够自动校正包括线重叠的所有矩阵效果。SQX还可以通过光电子(轻、超轻元素)、变化的环境、杂质和不同的样品尺寸校正辅助的激发效应。使用匹配库和完美的扫描分析程序提高准确性。


ZSX Primus III+ X射线荧光光谱仪

X射线管位于分析样品上方,zei大程度减少了真空室内飘散粉末损坏光管的风险,并且无需在进行粉末样品分析时使用粘合剂,使样品制备更快捷简便。
可在慢速和快速直接切换抽真空和卸真空速率,使粉末和金属样品的样品处理量达到zei佳。

 

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特点

  • 实现粉末、固体样品不同元素不同含量的高精度分析

  • 高精度定位样品台满足合金分析高精度要求

  • 特殊光学系统减少样品表面不平而引起的误差

  • 样品室可简单移出方便清洁

  • 操作界面简洁、自动化程度高


【技术特点对用户带来的好处】-- 理学ZSX Primus III+ 上照射式波长色散X射线荧光光谱仪


【典型应用举例】-- 理学ZSX Primus III+ 上照射式波长色散X射线荧光光谱仪


厂家资料

地址:北京市海淀区西直门外大街168号腾达大厦2601室

电话:400-6699-117 转6243

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