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三维表面轮廓仪 SURFIEW 6000

tel: 400-6699-117 1000

GL泰克轮廓仪/粗糙度仪, 三维表面轮廓仪利用光的干扰,可迅速,准确,并高检测性的对1nm~10mm高度的模型的表面想象进行纳米单位测量。

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技术特点

【技术特点】-- 三维表面轮廓仪 SURFIEW 6000

Master

反复性、准确性、重现性极佳

框架一体型

自动镜头调整钮

优秀的Capacity Sensor

自动滤镜

缝纫功能

自动对焦功能

安装3个变焦距镜头

自动、半自动、手动测量模式


产品概要


    三维表面轮廓仪利用光的干扰,可迅速,准确,并高检测性的对1nm~10mm高度的模型的表面想象进行纳米单位测量。相比接触性方式,不会对测量物造成任何损伤,相比共焦方式,高解像力无关倍率均可得到统一结果,与AFM相比,可在宽测量领域内快速测量。

高度解像力0.1nm

任何倍率下,解像力均统一

测量纳米等级

测量高速,高精密度,高解像力表现形象

可测量透明/半透明/不透明登各种样品

无需非破坏,预加工程序即可轻松测量

反复性,准确性,重现性极佳




主要特征


测量高度,长度,段差,线,圆,弧,角度,款,宽,距离

面粗糙度,线粗糙度,波形

测量划痕,磨损,缺陷

测量面积,大小


测试原理



利用光的干涉信号,将表面的形状到1nm~10cm为止,没有材料的破损,从相机中显示的全部领域,正确,检测到高强度为单位。

干涉信号是在任意义的基准点中,同时出现的光在移动到不同的场景(optical path),在移动后合上的时候,用两个场景(optical path)的物理现象,是一种明亮的明亮的形态,这是干涉信号。





【技术特点对用户带来的好处】-- 三维表面轮廓仪 SURFIEW 6000


【典型应用举例】-- 三维表面轮廓仪 SURFIEW 6000



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