主要技术参数
扫描范围：150mm×150mm(最大可选600mm*600mm)
扫描步长：0.1μm
扫描速度：20mm/s
Z方向测量范围：27mm
方向测量分辨率：2nm
产品应用
MEMS、半导体材料、太阳能电池、医疗工程、制药、生物材料，光学元件、陶瓷和先进材料的研发。
请扫描二维码查看详细参数
经销商
|
除厂家/中国总经销商外，我们找不到 Nanovea ST400三维表面形貌仪 的一般经销商信息，有可能该产品在中国没有其它经销商。
如果您是，请告诉我们，我们的邮件地址是：sales@antpedia.net 请说明: 1.产品名称 2.公司介绍 3.联系方式 |
售后服务
我会维修/培训/做方法
如果您是一名工程师或者专业维修科学 仪器的服务商，都可参与登记，我们的平台 会为您的服务精确的定位并展示。
