FT160 XRF 镀层分析仪
tel: 400-6699-117 转 6246日立分析仪器涂镀层及薄膜测厚仪, FT160准确、可靠地测量最小部件上的镀层,有助于您在PCB、半导体晶片和微连接器上维持一致且准确的镀层。......
在线客服
产品型号:FT160 XRF
品牌:日立分析仪器
产品产地:日本
产品类型:进口
原制造商:日立分析仪器
状态:在售
厂商指导价格: 50~100万元[人民币]
上市时间: 2020-02-01
英文名称:FT160 XRF Coatings Analyzer
优点:FT160准确、可靠地测量最小部件上的镀层,有助于您在PCB、半导体晶片和微连接器上维持一致且准确的镀层。
参考成交价格: 50~100万元[人民币]
其他推荐
厂家资料
地址:上海市闵行区瓶北路150弄129号
电话:400-6699-117 转 6246
经销商
除厂家/中国总经销商外,我们找不到 FT160 XRF 镀层分析仪 的一般经销商信息,有可能该产品在中国没有其它经销商。
如果您是,请告诉我们,我们的邮件地址是:sales@antpedia.net 请说明: 1.产品名称 2.公司介绍 3.联系方式 |
评论
我来点评售后服务
登记我会维修/培训/做方法
如果您是一名工程师或者专业维修科学 仪器的服务商,都可参与登记,我们的平台 会为您的服务精确的定位并展示。
产品调查
查看标准
- IS 12434-1988 涂层/镀层厚度测试仪规范 破坏性类型
- NF A91-114:1995 金属镀层.镀层厚度的测量.表面光度仪法
- HG/T 3240~3241-2007 电脑膜层测厚仪 电脑内孔膜层测厚仪
- KS D ISO 4519:2009 金属镀层.镀层厚度的测量.表面光法度轮廓仪法
- EN ISO 4518:2021 金属镀层.镀层厚度的测量.表面光法度轮廓仪法
- SANS 4518:1980 金属镀层.镀层厚度的测量.表面光法度轮廓仪法
- IPC 4554 CHINESE 2007(2012) IPC 4554 CHINESE 2007(2012)
- XP T30-129*XP CEN ISO/TS 19397:2018 使用超声波测厚仪测定涂层的膜厚
- ISO/CD 19397:2023 使用超声波测厚仪测定涂层的膜厚
- PD CEN ISO/TS 19397:2018 使用超声波测厚仪测定涂层的膜厚