2850412321
高分辨率 SDD
元素范围： 铝 - 铀
样品舱设计：开闭式
XY 轴样品台选择：自动台、晶片样品台
最大样品尺寸：600 x 600 x 20 毫米
滤光片：1 或 3
毛细管聚焦光斑尺寸< 20µm
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日立分析仪器涂镀层及薄膜测厚仪, FT160准确、可靠地测量最小部件上的镀层，有助于您在PCB、半导体晶片和微连接器上维持一致且准确的镀层。
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