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半导体泵浦激光原理实验系统

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拓普其它光学测量仪, XGL-2型半导体泵浦激光原理实验系统采用波长为808nm的半导体泵浦源。

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技术特点

【技术特点】-- 半导体泵浦激光原理实验系统

     仪器简介:

XGL-2型半导体泵浦激光原理实验系统采用波长为808nm的半导体泵浦源,激光晶体
 为ND:YVO4以及KTP倍频晶体等,构成整个实验系统。主要适用于大学近代物理教学,学生可以自己动手,通过调整激光器光路,观察倍频现象,并测量倍频效率、相位匹配角等参数,从而进一步了解和掌握激光原理及激光技术。 
 半导体激光(LD)与LD泵浦固体激光器的原理与区别
 激光阀值、激光斜率的测量
 激光倍频原理和实验
 激光发散角测量
 激光器光斑尺寸的测量



【技术特点对用户带来的好处】-- 半导体泵浦激光原理实验系统


【典型应用举例】-- 半导体泵浦激光原理实验系统



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