布鲁克 D8 D8 ADVANCE 达芬奇 X射线衍射仪

技术指标： 

Theta/theta 立式测角仪 

2Theta角度范围：-110~168°

角度精度：0.0001度

Cr/Co/Cu靶，标准尺寸光管

探测器：林克斯阵列探测器、林克斯XE阵列探测器

仪器尺寸：1868x1300x1135mm 

重量：770kg

　　仪器配置

　　D8型X射线衍射仪系列是当今世界上zei先进的X射线衍射仪系统。

　　包括陶瓷X光管、X射线高压发生器、高精度测角仪、闪烁晶体探测器、计算机控制系统、数据处理软件、相关应用软件和循环水装置。

　　技术参数

　　X射线发生器：电流电压输出稳定性优于0.005% (外电压波动10%)时;X射线防护： 国际安全认证，射线剂量≤0.2μSv/h。

　　光管类型：陶瓷X光管，Cu靶，其他靶材可选，更换无需校准;光管功率：2.2 kW;长细焦斑：0.4×12mm;zei大管压：60kV;zei大管流：80mA;

　　测角仪：采用步进马达驱动和光学编码器技术，

　　              扫描方式θ/θ或θ/2θ测角仪; zei小步进角度0.0001°; 角度重现性0.0001 °;

　　             zei高定位速度 ≥1500°/min。索拉(Soller)狭缝：0.02, 0.04, 0.08 rad。

　　探测器：闪烁或固体

　　              闪烁晶体计数器;动态范围≥2×10⁶ cps;背底噪声< 0.5 cps。

　　              固体探测器：锂漂移硅能量色散型; 测量范围2keV ～ 30keV; 能量分辨率： E ≥279eV。

　 系统软件：系统控制和数据采集软件;物相检索软件及数据库;粉末衍射全分析软件包(相分析软件、物相定量分析软件;精密测定晶胞参数;样品中无定型含量;微晶尺寸和(或)微观应力分析软件;结构精修和面间距与角度计算;模拟复杂混合相或单相的无标定量分析);残余应力分析软件;晶粒度分析软件。

参考招标参数：中国科学院2018年仪器设备部门集中采购项目（第一批）

招标编号：OITC-G180260376-1

第9包 X射线衍射仪

1. 工作条件：

1.1  电力供应：单相220V（±10%），50Hz

1.2 工作温度：10°C-40°C

1.3 相对湿度：≤75％

1.4 仪器运行的持久性：能够满足长时间连续工作 

2. 设备用途：

能够精确地对金属和非金属多晶样品进行物相定性、定量分析，配备多位自动进样样品台，能完成多个样品的连续测量。

3. 主要技术指标：

3.1. X射线光源

3.1.1. X射线发生器部分

3.1.1.1 最大输出功率：3kW

3.1.2 X射线光管部分

*3. 1.2.1 X射线光管：Cu靶，陶瓷X光管，2.2 kW，国际标准尺寸，能与其他厂家的标准管互换

3.1.2.2 焦斑大小：0.4 x 12 mm

3.1.3 电流电压稳定度：优于±0.005% (外电压波动10%)时

3.1.4 X射线防护：安全连锁机构、剂量符合国标;防护罩外任何一点的计量小于1mSv/h

3.2. 测角仪部分

3.2.1 测角仪：采用光学编码器技术与步进马达双重定位

3.2.2 扫描方式：q/q测角仪，测角仪垂直放置

*3.2.3 2q转动范围：-100°≤2q≤168°

3.2.4 测角仪半径：≥200 mm，测角圆直径可连续改变

3.2.5 可读最小步长：0.0001°，角度重现性：0.0001°

*3.2.6 最高定位速度：≥1200°/min

3.2.7 采用智能虚拟测角仪全自动控制，硬件自动识别、自动纠错

3.2.8 验收精度：国际标准样品现场检测，全谱范围内所有峰的角度偏差不超过±0.01度。

3.3. 探测器部分： 提供能量分辨型半导体阵列探测器

3.3.1 子探测器个数：>2560个

*3.3.2 整个探测器的背景：<0.1 cps

*3.3.3 探测器本身的能量分辨率，即无需在光路上使用任何滤波片或者单色器的情况下，优于680eV (相对于 CuKa能量分辨率优于9%)，在用户提出要求时，投标商必须提供国内现有用户进行此项指标验证。

*3.3.4 确保所有子探测器全好，具有静态扫描功能，具有点探测器功能，无需再配备闪烁或者正比探测器

3.3.5 提供的半导体阵列探测必须适合小角和广角测试，小角最小从0.3度开始

3.4. 功能附件

3.4.1 多位自动进样样品台

*3.4.1.1 能同时放置不少于90个样品，可实现所有样品的连续全自动扫描，在用户提出要求时，投标商必须提供国内现有用户进行此项指标验证。

*3.4.1.2 样品台可自转

*3.4.1.3 样品台同时具备透射和反射模式

3.5 仪器控制和数据采集系统

3.5.1 数据采集系统，不低于以下配置：双核主频3.0G Hz以上，8G 内存，500G HD，CD-RW，24”液晶显示器，网卡

3.5.2 仪器控制和数据采集软件

3.6. 应用软件：要求提供以下应用分析软件

3.6.1 物相检索软件：含原始数据直接检索功能

3.6.2 物相定量分析：可编程定量分析软件

3.6.3 无标样晶粒大小分析及微观应力分析

3.6.4 粉末数据指标化、结构精修、从头结构解析以及无标样定量分析软件

3.6.5 提供最新的正版粉末衍射数据库，并可以免费更新

3.7. 循环水冷系统：满足相应系统连续满功率运行（国内供货）

3.8. 培训、安装、技术文件

免费国内培训（买方负责受训人员差旅费）、免费安装调试及现场培训、提供有关的全套技术文件。

3.9. 仪器及生产商必须满足的相关国际安全标准

3.9.1  质量标准：ISO9001 & EN29002认证

3.9.2  安全标准： EC 认证

3.9.3  射线防护标准：DIN 54113认证