技术特点
【技术特点】-- Fischione 双束精修系统 1080
Optimal TEM specimen preparation done First Time Right
Achieve ultimate specimen quality – free from amorphous and implanted layers
Complements FIB technology
Milling without introduction of artifacts
Advanced detector technology for imaging and precise endpoint detection
In situ imaging with ions and electrons
Microscope connectivity for risk-free specimen handling
Adds capability and capacity
Fast, reliable and easy to use
【技术特点对用户带来的好处】-- Fischione 双束精修系统 1080
【典型应用举例】-- Fischione 双束精修系统 1080
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