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德国进口JETI过程质谱仪Versa PS 2000

tel: 400-6699-117 1000

JETI其它光学测量仪, 过程质谱仪 Versa PS 2000 是为在线透射测定和及时测量生产过程中的光层而设计的。

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规格参数


光学参数

光谱范围

200 nm ... 1000 nm

光谱仪

flat field holographic grating, aberration correction

mirror

光谱带宽

≤ 4.0 nm FWHM (100 μm slit)

≤ 2.5 nm FWHM (50 μm slit)

≤ 2.0 nm FWHM (30 μm slit)

不对称因子

≥ 0.7

光输入

200 mm 光纤带F-SMA 905接头

波长准确性

≤ 0.2 nm (HgAr 线性光)

波长重复性

≤0.02 nm (HgAr 线性光)

杂散光


< 0.2 % (ASTM E387, GG495,

波长 = 420 nm/ 600 nm)

动力

取决于探头类型

探头25 mm BTCCD, CMOS, NMOS*
电子参数
数字解析度

16 bit

AD噪声

2 counts RMS

采样速率

up to 4 MS/ s

数据传输率

up to 40 Mb/ s (via High Speed USB)

集成时间

0.01 ... 65535 ms

触发延迟

10 μs

抖动

≤2 μs

数据接口

USB 

Ethernet or RS 422/485

RS 232

电源

110 … 220 V or PoE (if Ethernet is used)

机械参数
体积

25 cm x 25 cm x 15 cm

重量

3 kg

标配清单主机、配套软件、电源线、JETI软件开发包、操作手册

其他配件可依客户需求订配


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