技术特点
【技术特点】-- 测量镜头测试卡
Long Wave Infrared Test Chart
LWIR 红外测试卡
投射式的SFRplus测试卡能够结合Imatest SFRplus 模块来测试MTF值,横向色差,扭曲和色调响应。SFRplus模块突出完全自动的局部探测。SFRplus测试卡与普遍使用的测试卡如ISO12233测试卡,有着更多更好的优点:
1.不浪费区域空间。
2.能够在传感器表面测试出图片锐度。
3.低对比度是的测量更加准确。
4.完全支持自动检测。
采用1525px 高,2287.5px 宽, 0.3 cm 厚铝制基底,不仅适用于室内环境测试,还适用于恶劣的室外环境测试。
【技术特点对用户带来的好处】-- 测量镜头测试卡
【典型应用举例】-- 测量镜头测试卡
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