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Microvision SS410-XE 显示屏光学测试系统

tel: 400-6699-117 1000

Microvision色度仪, Microvision显示器测量系统可选择两种取样探头SS410及SS420,使用一组抵用平台和控制电脑,经由专业控制软件,进行显示器光学特性的自动测量和分析。

在线客服


 

SS410-XE系统规格参数

高分辨率数字CCD相机:

 

成像传感器:1392 x 1040 elements
数字视频:12 bit
元素尺寸:6.45 μm, square pixels
同步:Synchronous Capture
滤镜:Photopic, 50%, 25%, 10%,&1% ND
标准镜头25mm C mount, f1.6 to f16
视场11 mm Standard, adjustable.
数字变焦:up to 32X
亮度精度:+/- 4% @2856K illuminant A
亮度范围:0.05 to 106 cd/m2  with ND filters

 

测量时间:<1 s for most measurements

 

衍射光栅光谱仪

光谱范围:380 to 780nm (1000nm optional)
亮度范围:0.01 to 500K cd/m2  **
亮度精度:+/- 3% @ 2856K illuminant A
重复率:

RSD over 30 minutes < 0.5%

0.01 cd/m2 sensitivity is specified at 3% RSD

色彩精度:+/- 0.002 @ 2856K
色彩重复率:+/- 0.0005 @ 2856K
温度控制:Computer controlled
光学:12mm collimated system
接受角度:1.5° standard
集成时间:16.7 ms - 5000 ms (sync @ 60Hz)
光学分辨率:3.8 nm (slit width 100 μm)
校准:NIST Traceable calibration
操作温度:5o - 30o C

 

范围包括了中性滤光片的使用。 


厂家资料

地址:广州市天河区五山路248号金山大厦502室

电话:400-6699-117 转 1000

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