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Phenom Particle Metric颗粒测试

tel: 400-6699-117 6730

Phenom扫描电镜SEM, 以最快、最简便的方式实现颗粒的可视化分析,是微观颗粒分析技术的一大进步。快速、易用和超清晰图像质量的Phenom飞纳扫描......

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飞纳扫描电镜颗粒系统软件ParticleMetric的功能

1.     可进行以下颗粒分析

  • 颗粒尺寸范围:100nm ~ 0.1mm

  • 颗粒探测速度:高达1000个/分钟

  • 颗粒测量属性:大小、形状、数量

2.     可以测量的颗粒参数

  • 面积、当量直径、表面积、外接圆直径、比表面积、周长、宽高比

  • 充实度、伸长率、灰度等级、长轴长度和短轴长度(椭圆)

  • 凸壳体、重心、像素点数、凸状物。

3.     可以提供的图形显示

  • 按数量或体积的线性、对数、双对数点状图

  • 任何指定参数的散点图

  • 单个颗粒的SEM图像

4.     可以提供的图形输出

  • Word版本docx格式的报告,TIFF格式的图像

  • CSV文件,离线分析的项目文件(.PAME)Pro Suite的一部分

 

飞纳扫描电镜颗粒系统ParticleMetric软件的优势

1.      加载ParticleMetric软件的飞纳台式扫描电镜能够轻松生成并分析图像,方便用户采集超细颗粒的形貌信息和颗粒的尺寸数据;

2.      全自动的飞纳扫描电镜颗粒测试系统ParticleMetric软件测量可以实现超出光学显微镜、更好景深的视觉效果,为用户提供颗粒物的结构设计、研发和质量控制方面的细节数据;

3.      ParticleMetric软件生成的柱状图、散点图可以作为报告的内容按照指定格式输出。任何柱状图都可以按照被测颗粒的不同属性,生成数量柱状图和体积柱状图。散点图可以按照任何一项颗粒的特性生成,以便揭示相关联系和趋势。

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                                                     散点选择的截图

4.     直接由Phenom获取图像,识别并确认诸如破损颗粒、附着物和外来颗粒,关联颗粒物的特征,比如直径、充实度、纵横比和凹凸度

5.     便捷的操作提升了工作效率并使计划表简单化和可视化

6.     无限制的图像采集,可轻松存储于网络或优盘,便于共享、交流或以后参考

7.     Phenom的易用性和对环境的良好适应力,用户可以将试样最大程度视觉化

8.     附有高清图片的统计学数据。

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飞纳扫描电镜颗粒系统ParticleMetric软件适合的应用领域

化妆品行业         

食品行业

化工行业

制药行业

陶瓷

颗粒以及表面涂层

环境颗粒

过滤器/筛网公司

                                     

配合高倍拼图软件,可实现全样品颗粒分析

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Nebula 1可以在SEM样品台上实现干粉均匀分散,可以获取单层颗粒,同时避免颗粒的团聚,保持脆性颗粒的结构完整,为用户提供最佳制样方法。

 

配合ParticleMetric软件使用干粉分散器可以为用户提供的最好的颗粒分析结果。

Nebula 1参数

粉末尺寸范围:0.1~1500μm

分散真空度范围:0~0.8Bar

压力设置精度:0.05Bar

尺寸和重量

规格:390(长)×210(宽)×350(高),8.5kg

隔膜泵:1450(长)×220(宽)×213(高),4.5kg



厂家资料

地址:上海市浦东新区张江高科技园科苑路88号德国中心E座501-503

电话:400-6699-117 转 6730

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