飞纳台式扫描电镜 Phenom X 断面观测插件
tel: 400-6699-117 转 6730Phenom电镜附件及外设, 微型电子元器件插件是设计用来最小化制样时间的。插件配合金相样品杯使用。......
在线客服
产品型号:X-view Insert
品牌:Phenom
产品产地:荷兰
产品类型:进口
原制造商:Phenom
状态:在售
厂商指导价格: 1~5万元[人民币]
上市时间: 2014-03-05
英文名称:X-view Insert Section observation plug-in
优点:微型电子元器件插件是设计用来最小化制样时间的。插件配合金相样品杯使用。
参考成交价格: 1~5万元[人民币]
仪器导购
电镜附件及外设
其他推荐
厂家资料
地址:上海市浦东新区张江高科技园科苑路88号德国中心E座501-503
电话:400-6699-117 转 6730
经销商
除厂家/中国总经销商外,我们找不到 飞纳台式扫描电镜 Phenom X 断面观测插件 的一般经销商信息,有可能该产品在中国没有其它经销商。
如果您是,请告诉我们,我们的邮件地址是:sales@antpedia.net 请说明: 1.产品名称 2.公司介绍 3.联系方式 |
评论
我来点评售后服务
登记我会维修/培训/做方法
如果您是一名工程师或者专业维修科学 仪器的服务商,都可参与登记,我们的平台 会为您的服务精确的定位并展示。
产品调查
查看标准
- T/CSTM 00795-2022 材料实验数据 扫描电镜图片要求
- GB/T 17359-1998 电子探针和扫描电镜X射线能谱定量分析通则
- GB/T 36422-2018 化学纤维 微观形貌及直径的测定 扫描电镜法
- 18/30319114 DC BS ISO 20171 微束分析 扫描电子显微镜 用于扫描电子显微镜(TIFF/SEM)的标记图像文件格式
- WW/T 0055-2014 古代陶瓷科技信息提取规范 形貌结构分析方法
- ISO/TS 10798:2011 纳米技术.使用扫描电镜与X射线能谱分析的单臂碳纳米管的特征描述
- GB/T 18735-2014 微束分析 分析电镜(AEM/EDS)纳米薄标样通用规范
- T/CSTM 00375-2021 钒钛磁铁矿 矿物定量检测方法
- ISO/TS 21383:2021 微束分析.扫描电子显微镜.定量测量用扫描电子显微镜的鉴定
- GB/T 16594-1996 微米级长度的扫描电镜测量方法