SurfaceSeer系列飞行时间二次离子质谱仪
tel: 400-6699-117 转 9116雪迪龙二次离子质谱/离子探针, 高性价比将材料表面分析技术。可在zei短的分析时间内生成化学图像......
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产品型号:SurfaceSeer
品牌:雪迪龙
产品产地:英国
产品类型:进口
原制造商:Kore/雪迪龙
状态:在售
厂商指导价格: 500万元[人民币]
上市时间: 2013-03-18
英文名称:SIMS-TOF
优点:高性价比将材料表面分析技术。可在zei短的分析时间内生成化学图像
参考成交价格: 500万元[人民币]
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二次离子质谱/离子探针
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厂家资料
地址:北京昌平区回龙观国际信息产业基地3街3号
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- BS ISO 13084:2011 表面化学分析.二次离子质谱.飞行时间二次离子质谱用质量标度的校准
- BS ISO 13084:2018 表面化学分析 二次离子质谱分析 飞行时间二次离子质谱仪的质量标度校准
- JIS K 0157:2021 表面化学分析. 二次离子质谱法. 渡越时间二次离子质谱仪的质量标度的校准
- ASTM E2695-09 用飞行时间二次离子质谱法说明质谱数据获取的标准指南
- ISO 178:1975 表面化学分析.二次离子质谱法.单离子计数飞行时间质量分析仪中强度标度的线性
- ISO 17862:2022 表面化学分析.二次离子质谱法.单离子计数飞行时间质量分析仪中强度标度的线性
- BS ISO 17862:2022 表面化学分析 二次离子质谱分析 单离子计数飞行时间质量分析仪中强度标度的线性
- ISO 17862:2013 表面化学分析——二次离子质谱法——单离子计数飞行时间质量分析仪中强度标度的线性
- JIS K 0155:2018 表面化学分析 二次离子质谱法 单离子计数时间飞行质量分析仪中强度刻度的线性度
- ISO 178:2019 表面化学分析.二次离子质谱法.单离子计数飞行时间质量分析仪中强度标度的线性